[发明专利]一种硬盘测试设备和服务器

说明书

本发明公开了一种硬盘测试设备和服务器，设备包括：控温密封测试盒具有容纳待测硬盘用的腔体，并配置为在腔体内为待测硬盘提供确定的温度环境；密封测试盒控制器连接到控温密封测试盒以调控待测硬盘的温度环境，并且还在待测硬盘读写时采集腔体中的温度变化数据；存储卡连接到控温密封测试盒中的待测硬盘以向待测硬盘施加读写压力。本发明能够在硬盘发热测试中稳定测试环境并节省测试物料。

技术领域

本发明涉及测试领域，更具体地，特别是指一种硬盘测试设备和服务器。

背景技术

大数据时代，数据中心机房成为常见的基建设施，硬盘作为数据存储介质成为数据中心机房的核心组成部分之一，硬盘是否处于良好的运行环境会直接影响保障数据中心机房的健康安全运行，所以保障硬盘的良好运行状态对数据中心的健康运行是一项非常重要而且有意义的事情。硬盘在运行过程中，环境温度为影响其稳定运行及使用寿命的关键因素之一，数据中心中个存储或计算节点服务器在设计之初，其散热能力都会有个上限标准，即某个机型能够兼容的硬盘的热量是一定的。通常情况下，为测试一款硬盘是否能够用在某款机型上，除了测试对应软件的兼容性外，还需关注其硬件特别是散热相关的兼容性。

在测试软件兼容性时，不需要对整机的硬盘进行满配测试，测试物料简单容易操作，不会引起测试过程老化过多的硬盘物料，但是在评估硬盘散热兼容性时，最贴近实际应用情况的为把整机进行满配硬盘加压测试。此时测试环境的稳定性保持不便于控制，在多批次测试时，由于季节变迁等原因，测试环境内的环境风速，环境温度，测试样机散热能力衰减等都难以保持统一。另外满配实际测试时，需要对整机进行满盘位测试，所有硬盘位都需要配置硬盘，硬盘数量较多，如果测试时长较长，会造成此测试硬盘使用时间及老化程度的明显变化，会造成测试物料浪费。

针对现有技术中测试环境难以保持稳定、测试物料浪费等问题，目前尚无有效的解决方案。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种硬盘测试设备和服务器，能够在硬盘发热测试中稳定测试环境并节省测试物料。

基于上述目的，本发明实施例的第一方面提供了一种硬盘测试设备，包括：

控温密封测试盒，具有容纳待测硬盘用的腔体，并配置为在腔体内为待测硬盘提供确定的温度环境；

密封测试盒控制器，连接到控温密封测试盒以调控待测硬盘的温度环境，并且还在待测硬盘读写时采集腔体中的温度变化数据；

存储卡，连接到控温密封测试盒中的待测硬盘以向待测硬盘施加读写压力。

在一些实施方式中，控温密封测试盒的腔体包括：

进气孔，设置在腔体的侧壁上；

出气孔，设置在腔体与进气孔相对的侧壁上；

电热器，设置在腔体内部靠近进气孔的位置，用于将流入控温密封测试盒的气体加热到确定的温度；

抽风扇，设置在腔体内部靠近出气孔的位置，用于将腔体中的气体通过出气孔排出；

多个温度传感器，分别设置在腔体内的多个位置，用于采集腔体内的温度。

在一些实施方式中，腔体还包括：

过滤材料，设置在进气孔中并且部分地覆盖进气孔内的空间，在腔体内外气压一致时阻挡气体自由流通；

单向阀，设置在出气孔中并且部分地覆盖进气孔内的空间，允许气体在抽风扇的作用下单方向地流出腔体。

在一些实施方式中，腔体还包括设置在其中的测试治具架，测试治具架包括用于固定硬盘和均匀导热的安装固定架、数据接口、和表面空气循环扇。