[发明专利]LED框架产品测试方法

说明书

本发明公开了一种LED框架产品测试方法，采用LED框架产品测试系统进行测试，其测试方法包括如下步骤：将满料的两个料框仓分别放置于两个料框提升机构中待上料，其中相邻的料框产品之间铺设有隔纸；抓取机构将其对应下方的料框提升机构中的料框产品抓送至输送装置中待输送并将隔纸吸取送至上料装置隔纸储料机构中，两个抓取机构先后交替工作；两个输送装置先后交替工作对料框产品进行输送，料框产品在输送过程中，依次经过第一光检装置、第二光检装置和第三光检装置进行多次光检；收料装置对光检之后的料框产品进行分类堆叠收集。本发明具有自动化程度高、测试结果精确、减轻工人劳动强度、提高工作效率、提高产品良率的优点。

技术领域

本发明属于AOI光检设备技术领域，具体涉及一种LED框架产品测试方法。

背景技术

LED框架在生产过程中需对其进行参数测试，现有的LED框架产品测试流程主要包括上料、测试、下料，其自动化程度低、人工成本高、工作效率低、测试结果不精确。

传统的LED框架上料方式是由人工手动抓取上料，上料效率低，其通过人工将产品取出之后还需将其下层的隔纸移出，此种上料方式存在两个弊端：第一、人工接触产品时可能会导致产品表面被氧化腐蚀，影响产品质量；第二、由于隔纸较薄，取出隔纸时可能会按压下方的产品，会对产品造成损伤，降低产品良率。

传统的LED框架测试方式是将产品直接平放在光检移动治具上，治具在经过相机的运动过程中，其产生的晃动很有可能使产品的相对位置出现偏移，从而造成光检误判，使得检测内容与实际不符、测试结果不精确。

传统的LED框架下料方式，在产品脱离机械抓手后，直接自由下落到收料盒中，再由人工将收集盒中的框架一片片按数量理顺堆叠好，工作效率低下，工人劳动强度大，不能实现自动化生产；且在人工整理框架时，还会引起框架表面擦伤，导致产品不良，降低产品良率。

因此寻求一种自动化程度高、测试结果精确、降低工人劳动强度、提高工作效率、提高产品良率的LED框架产品测试方法尤为重要。

发明内容

本发明的目的在于提供一种LED框架产品测试方法，以解决上述背景技术中提出的自动化程度低、测试结果不精确、工人劳动强度大、工作效率低、产品不良率高的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种LED框架产品测试方法，采用LED框架产品测试系统进行测试，所述LED框架产品测试系统包括机架，所述机架上自左至右依次设置有上料装置、第一光检装置、第二光检装置、第三光检装置以及下料装置，所述上料装置、第一光检装置、第二光检装置和第三光检装置之间设置有输送装置，所述上料装置包括上料装置纵移机构，所述上料装置纵移机构上设置有两个可纵向移动的抓取机构，所述上料装置纵移机构的下方设置有前后两个对称布置的料框提升机构，所述料框提升机构的外侧设置有上料装置隔纸储料机构；

所述输送装置设置有前后两个，前后两个输送装置对称布置；

其测试方法包括如下步骤：

步骤一、将满料的两个料框仓分别放置于两个料框提升机构中待上料，其中相邻的料框产品之间铺设有隔纸；

步骤二、抓取机构将其对应下方的料框提升机构中的料框产品抓送至输送装置中待输送并将隔纸吸取送至上料装置隔纸储料机构中，两个抓取机构先后交替工作；

步骤三、两个输送装置先后交替工作对料框产品进行输送，料框产品在输送过程中，依次经过第一光检装置、第二光检装置和第三光检装置进行多次光检；

步骤四、收料装置对光检之后的料框产品进行分类堆叠收集。

更进一步的，所述抓取机构包括升降组件、吸附组件和夹爪组件，