[发明专利]双倍速率测试模式参数配置方法及存储介质

权利要求书

1.一种双倍速率测试模式参数配置方法，适用于一待测的存储器，其特征在于，所述方法包括步骤：

配置所述待测的存储器的芯片的测试电压，包括：配置所述待测的存储器的芯片的引脚的输入电压，其中，所述输入电压包括第一输入电压和第二输入电压，配置所述待测的存储器的芯片的引脚的输出电压，其中，所述输出电压包括第一输出电压和第二输出电压，配置加载在所述待测的存储器的芯片的引脚上的负载电流，其中，所述负载电流包括第一负载电流及第二负载电流；

配置所述待测的存储器的芯片的时序信号，包括将一个时钟周期划分为第一时序信号和第二时序信号；

定义所述时序信号的格式，其中，所述时序信号的格式包括第一格式和第二格式，所述第一格式在第一时序信号中的波形对应第一数据，在第二时序信号中的波形对应第二数据；

根据所述测试电压、所述时序信号及所述格式建立算法模型，包括：生成算法模型产生器的地址、数据及格式，在对算法模型产生器执行控制操作时，当满足预设的条件，所述算法模型产生器执行相应的跳转，以及所述算法模型产生器的计时器进行计数操作；以及

配置错误捕捉器，包括根据待测存储器芯片的存储容量生成X地址和Y地址的大小，压缩X地址和Y地址生成列数据，根据列数据判断产生错误的行数据。

2.根据权利要求1所述的双倍速率测试模式参数配置方法，其特征于，所述第一输入电压为电源电压的0.9倍，所述第二输入电压为电源电压的0.1倍；

所述第一输出电压和所述第二输出电压均为电源电压的0.5倍；

所述第一负载电流为-100uA，所述第二负载电流100uA。

3.根据权利要求1所述的双倍速率测试模式参数配置方法，其特征在于，所述第一时序信号用于控制相对应的第一循环数据，所述第二时序信号用于控制相对应的第二循环数据；所述第一时序信号和所述第二时序信号的电平和时间是根据驱动方式、数据获取和时序边缘而确定的。

4.根据权利要求1所述的双倍速率测试模式参数配置方法，其特征在于，

所述第二格式在一个时钟周期内具有四个脉冲信号。

5.根据权利要求1所述的双倍速率测试模式参数配置方法，其特征在于，

所述X地址和所述Y地址最大值不超过24。

6.根据权利要求1所述的双倍速率测试模式参数配置方法，其特征在于，在根据列数据判断产生错误的行数据的步骤之后，还包括步骤：

根据产生错误的行数据，生成与X地址和Y地址相对应的矩阵地址。

7.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有多条指令，所述指令适于由处理器加载以执行权利要求1至6任一项所述的双倍速率测试模式参数配置方法。