[发明专利]一种红外探测器质量检测方法及装置

权利要求书

1.一种红外探测器质量检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

设定N个预设距离，且在当前预设距离下，将焦平面温度为t的红外探测器依次对准多个不同温度的黑体，并获取M个不同温度黑体的红外辐射值，且分别计算M个不同温度黑体的红外辐射值与最低温度黑体的红外辐射值之间的差值，记为当前预设距离下的红外辐射差异值，由此获得焦平面温度为t时，当前预设距离下的M个红外辐射差异值；

采用分段拟合的方式获取红外探测器焦平面温度为t时，在当前预设距离下，M个黑体的黑体温度与该预设距离下的M个红外辐射差异值的函数关系；

重复上述步骤，以获得红外探测器在不同焦平面温度、不同预设距离下，黑体的黑体温度与红外辐射差异值的函数关系，并判断焦平面温度与红外辐射差异值是否符合规律，以此判断该红外探测器质量是否合格。

2.如权利要求1所述红外探测器质量检测方法，其特征在于，所述红外探测器质量检测方法还包括：根据红外探测器获取的第一黑体图像I1、第二黑体图像I2确定异常像素点。

3.如权利要求2所述红外探测器质量检测方法，其特征在于，确定异常像素点的过程包括：

启动红外探测器，待其焦平面温度t稳定后，调整所述红外探测器与第一黑体的距离，并获得若干第一黑体图像I1，以及调整所述红外探测器与第二黑体的距离，并获得若干第二黑体图像I2；

获取第一黑体的黑体图像I1的像素平均值以及第二黑体的黑体图像I2的像素平均值

计算红外探测器在焦平面温度t下每个像素点的非均匀校正系数K(i，j)；

根据在焦平面温度t下每个像素点的非均匀校正系数K(i，j)对红外探测器的像素点进行判定，以确定出异常像素点。

4.如权利要求3所述红外探测器质量检测方法，其特征在于，红外探测器与第一黑体、第二黑体的距离相同。

5.如权利要求3所述红外探测器质量检测方法，其特征在于，红外探测器与第一黑体、第二黑体的距离均为5-10cm。

6.如权利要求3所述红外探测器质量检测方法，其特征在于，第一黑体和/或第二黑体的温度范围为-30～300℃，且第二黑体的温度高于第一黑体的温度。

7.如权利要求3所述红外探测器质量检测方法，其特征在于，获取像素平均值的方法包括：将第一黑体的黑体图像I1全图像素相加/第二黑体的黑体图像I2全图像素相加后，对应除以第一黑体的黑体图像I1的像素个数/第二黑体的黑体图像I2的像素个数。

8.如权利要求1所述红外探测器质量检测方法，其特征在于，所述“采用分段拟合的方式获取红外探测器焦平面温度为t时，在当前预设距离下，M个黑体的黑体温度与该预设距离下的M个红外辐射差异值的函数关系”包括：在当前预设距离下，每次取M个黑体中的部分黑体的黑体温度，与该预设距离下的部分红外辐射差异值进行拟合，由此获得若干个分段拟合值；再对若干个分段拟合值进行拟合，以获得焦平面温度为t时，当前预设距离下，M个黑体的黑体温度与M个红外辐射差异值的函数关系。

9.一种用于实现权利要求1-8任一项所述检测方法的红外探测器质量检测装置，其特征在于，包括：

红外辐射差异值计算单元，其用于在当前预设距离下，分别计算M个不同温度黑体的红外辐射值与最低温度黑体的红外辐射值之间的差值，并记为该预设距离下的红外辐射差异值；

函数获取单元，其用于获取红外探测器焦平面温度为t时，在当前预设距离下，M个黑体的黑体温度与该预设距离下的M个红外辐射差异值的函数关系；

质量判断单元，其用于根据红外探测器在不同焦平面温度下，且在每一预设距离下，M个黑体的黑体温度与该预设距离下的红外辐射差异值的函数关系判断焦平面温度与红外辐射差异值是否符合规律，若有异常，则认为该红外探测器质量不合格。

10.如权利要求9所述的红外探测器质量检测装置，其特征在于，所述红外探测器质量检测装置还包括：

像素均值计算单元，其用于计算在焦平面温度为t时，红外探测器获取的第一黑体的黑体图像I1的像素平均值以及第二黑体的黑体图像I2的像素平均值

非均匀校正系数计算单元，其用于计算红外探测器在焦平面温度t下每个像素点的非均匀校正系数；

异常点判定单元，其连接所述非均匀校正系数计算单元，用于根据在焦平面温度t下每个像素点的非均匀校正系数对红外探测器的像素点进行判定。