[发明专利]一种红外探测器质量检测方法及装置

说明书

本发明公开了一种红外探测器质量检测方法及装置，其包括如下步骤：在预设距离下，分别计算M个不同温度黑体的红外辐射与最低温度黑体的红外辐射之间的差值；获取M个黑体的黑体温度与该预设距离下的M个红外辐射差异值的函数关系；判断红外探测器质量是否合格。本发明采用黑体代替热像仪内部的遮挡部件来获得红外辐射差异值，最终获得的数据稳定性更好，同时采用分段拟合得到红外辐射差异值和温度的函数关系，误差更小，可准确筛选出质量不合格的探测器。

技术领域

本发明涉及红外数据采集领域，具体为一种红外探测器质量检测方法及装置。

背景技术

任何温度高于绝对零度(-273.15℃)的物体都在不停地发射红外辐射，热像仪捕获红外辐射后，通过红外辐射和温度值的预设关系即可以得到待测物体的温度信息，进一步通过得到的待测物体的温度信息的一致性判断热像仪中的红外探测器的质量是否合格。常见预设关系建立过程包括：利用热像仪对着不同温度的黑体，并获取黑体的红外辐射数据，然后再对着热像仪内部遮挡部件(如快门)，同样获取遮挡部件的红外辐射数据，对应黑体红外辐射与遮挡部件的红外辐射的差值即为一组红外辐射差异值，由此获得与黑体数量对应的红外辐射差异值，然后建立红外辐射差异值和黑体温度的预设关系。

但采用热像仪手动采集黑体红外辐射差异值的方法存在以下问题：①内部遮挡部件(如快门)在热像仪内部温度不稳定，误差较大；②热像仪体积较大，数据采集不能批量进行，采集效率低；③受采集人员操作方法、经验等因素影响较大，数据采集一致性不佳。上述问题均会导致最终采集的数据不精确，从而对红外探测器的质量是否合格造成误判。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供了一种红外探测器质量检测方法及装置，其采用黑体代替热像仪内部的遮挡部件来获得红外辐射差异值，最终获得的数据稳定性更好，同时采用分段拟合得到红外辐射差异值和温度的函数关系，误差更小，可准确筛选出质量不合格的探测器。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一方面，提供了一种红外探测器质量检测方法，其包括如下步骤：

设定N个预设距离，且在当前预设距离下，将焦平面温度为t的红外探测器依次对准多个不同温度的黑体，并获取M个不同温度黑体的红外辐射值，且分别计算M个不同温度黑体的红外辐射值与最低温度黑体的红外辐射值之间的差值，记为当前预设距离下的红外辐射差异值，由此获得焦平面温度为t时，当前预设距离下的M个红外辐射差异值；

获取红外探测器焦平面温度为t时，在当前预设距离下，M个黑体的黑体温度与该预设距离下的M个红外辐射差异值的函数关系；

重复上述步骤，以获得红外探测器在不同焦平面温度、不同预设距离下，黑体的黑体温度与红外辐射差异值的函数关系，并判断焦平面温度与红外辐射差异值是否符合规律，以此判断该红外探测器质量是否合格。

优选的，所述红外探测器质量检测方法还包括：根据红外探测器获取的第一黑体图像I1、第二黑体图像I2确定异常像素点。

优选的，确定异常像素点的过程包括：

启动红外探测器，待其焦平面温度t稳定后，调整所述红外探测器与第一黑体的距离，并获得若干第一黑体图像I1，以及调整所述红外探测器与第二黑体的距离，并获得若干第二黑体图像I2；

获取第一黑体的黑体图像I1的像素平均值以及第二黑体的黑体图像I2的像素平均值

计算红外探测器在焦平面温度t下每个像素点的非均匀校正系数K(i，j)；

根据在焦平面温度t下每个像素点的非均匀校正系数K(i，j)对红外探测器的像素点进行判定，以确定出异常像素点。

优选的，红外探测器与第一黑体、第二黑体的距离相同。

优选的，红外探测器与第一黑体、第二黑体的距离均为5-10cm。