[发明专利]地震剖面成像方法、装置和电子设备有效
申请号: | 202010907288.6 | 申请日: | 2020-09-01 |
公开(公告)号: | CN111983682B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 刘礼农;张江杰;李正伟;许宏桥;高红伟;张剑锋 | 申请(专利权)人: | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 蒋姗 |
地址: | 100000 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 地震 剖面 成像 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种地震剖面成像方法,其特征在于,包括:
对初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得到倾角道集;
根据所述倾角道集得到成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合;
根据所述初始共偏移距叠前数据集得到常Q扫描道集;
根据所述常Q扫描道集生成等效Q值模型;
基于所述等效Q值模型校正所述成像空间的各个成像点的第一偏移孔径集合,以得到所述成像空间的各个成像点的第二偏移孔径集合;
基于预设偏移速度模型、所述等效Q值模型、所述第二偏移孔径集合,对所述初始共偏移距叠前数据集进行高精度衰减成像处理,得到偏移剖面和叠前道集;
所述第二偏移孔径集合表示为:
所述第一偏移孔径集合表示为:
其中,所述第二偏移孔径集合ApertureQ与所述第一偏移孔径集合Aperture的对应关系表示为:
其中,(x,y,T)表示成像点的坐标,表示主测线方向偏移孔径的左边界,表示主测线方向偏移孔径的右边界,表示联络测线方向偏移孔径的左边界,表示联络测线方向偏移孔径的右边界,f表示初始共偏移距叠前数据集的主频,fQ表示预设的提高分辨率处理后的共偏移距叠前数据主频,Qeff表示等效Q值模型在成像点处的取值,表示校正后主测线方向偏移孔径的左边界,表示校正后主测线方向偏移孔径的右边界;表示校正后联络测线方向偏移孔径的左边界,表示校正后联络测线方向偏移孔径的右边界。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得到倾角道集,包括:
根据所述初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得的主测线方向的倾角道集;
根据所述初始共偏移距叠前数据集进行处理,以得的联络测线方向的倾角道集。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述主测线方向的倾角道集表示为:
所述联络测线方向的倾角道集表示为:
其中,表示主测线方向的倾角道集,表示联络测线方向的倾角道集,T0=2T表示成像点(x,y,T)处的垂直双程旅行时,f′m表示地震道的半导数,N表示输入的所述初始共偏移距叠前数据集的总道数,(xs,ys)表示第m地震道对应的炮点坐标,(xg,yg)表示第m地震道对应的检波点坐标,τs表示炮点到成像点的走时,τg表示检波点到成像点的走时,与走时相关的倾角与表示为:
其中,Vrms表示成像点(x,y,T)处的均方根速度。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述初始共偏移距叠前数据集得到常Q扫描道集,包括:
根据预设的等效Q值序列构建常Q模型;
根据所述常Q模型,对所述初始共偏移距叠前数据集进行反Q滤波处理,得到第二共偏移距叠前数据集;
基于介质吸收后的地震波传播群速度,对所述第二共偏移距叠前数据集应用常规叠前时间偏移流程进行处理,以得到常Q扫描道集。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述常Q扫描道集生成等效Q值模型,包括:
基于所述常Q扫描道集,根据分析时窗内不同等效Q值对应的偏移剖面的分辨率,确定分析时窗处的等效Q值取值,以建立等效Q值模型。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院地质与地球物理研究所,未经中国科学院地质与地球物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010907288.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。