[发明专利]显示屏、显示屏检测系统及显示屏检测方法

权利要求书

1.一种显示屏(100)，其特征在于，所述显示屏(100)包括面板焊盘区(120)、及用于检测像素蒸镀区位置精度的测试组件区(110)；

所述测试组件区(110)包括阳极(111)、发光层(112)及阴极(113)，所述发光层(112)位于所述阳极(111)和所述阴极(113)之间，所述发光层(112)包括第一像素蒸镀区(1121)，所述阳极(111)朝向所述阴极(113)的一侧设置有测试组件图案(1111)，所述测试组件图案(1111)包括用于校准所述第一像素蒸镀区(1121)位置的标准测试组件(1111a)；

所述面板焊盘区(120)包括两个分别与所述阳极(111)及所述阴极(113)电连接的独立焊盘；

所述测试组件区110还包括补偿层(114)，所述补偿层(114)位于所述阳极(111)和所述阴极(113)之间，所述补偿层(114)包括第二像素蒸镀区(1141)，所述发光层(112)与所述补偿层(114)不重叠，所述测试组件图案(1111)中的标准测试组件(1111a)还用于校准所述第二像素蒸镀区(1141)的位置。

2.如权利要求1所述的显示屏(100)，其特征在于，所述阳极(111)和所述阴极(113)分别从所述发光层(112)及所述补偿层(114)的两侧，将所述发光层(112)及所述补偿层(114)完全覆盖。

3.如权利要求2所述的显示屏(100)，其特征在于，所述第一像素蒸镀区(1121)与第二像素蒸镀区(1141)呈矩形分布，任意相邻的两个像素蒸镀区之间分布有所述标准测试组件(1111a)。

4.如权利要求3所述的显示屏(100)，其特征在于，所述测试组件图案(1111)还包括校准标记(1111b)，所述校准标记(1111b)位于所述测试组件图案(1111)的中心。

5.如权利要求4所述的显示屏(100)，其特征在于，所述测试组件区(110)还包括第一辅助层(115)及第二辅助层(116)，所述第一辅助层(115)设置在所述阳极(111)朝向所述阴极(113)的一侧，所述第二辅助层(116)设置在所述阴极(113)朝向所述阳极(111)的一侧；

所述第一辅助层(115)包括空穴注入层(115a)及空穴传输层(115b)，所述第二辅助层(116)包括电子注入层(116a)、电子传输层(116b)及空穴阻挡层(116c)；

所述空穴注入层(115a)设置在所述阳极(111)朝向所述阴极(113)的一侧，所述空穴传输层(115b)设置在所述空穴注入层(115a)远离所述阳极(111)的一侧；所述电子注入层(116a)设置在所述阴极(113)朝向所述阳极(111)的一侧，所述电子传输层(116b)设置在所述电子注入层(116a)远离所述阴极(113)的一侧，所述空穴阻挡层(116c)设置在所述电子传输层(116b)朝向所述阳极(111)的一侧。

6.一种显示屏检测系统(10)，其特征在于，所述显示屏检测系统(10)包括像素位置精度检测设备(200)、有效发光区性能检测设备(300)、电信号提供设备(400)、及权利要求1-5中任意一项所述的显示屏(100)，其中，所述显示屏(100)还包括有效发光区(130)，所述面板焊盘区(120)还包括用于接收电信号点亮所述有效发光区(130)的独立焊盘；

所述像素位置精度检测设备(200)用于获取所述测试组件区(110)在白光照射下的第一图像及所述测试组件区(110)被点亮后的第二图像，并根据所述第一图像及第二图像检测所述显示屏(100)的像素蒸镀区位置精度，其中，所述像素位置精度检测设备(200)包括提供白光照明的白光源(210)；

所述有效发光区性能检测设备(300)用于对点亮后的有效发光区(130)进行性能检测，其中，所述性能检测包括特性检测及缺陷检测；

所述电信号提供设备(400)包括与所述面板焊盘区(120)中各独立焊盘位置对应的多个金属针脚，每一所述金属针脚用于提供一路电信号，在各个所述金属针脚与对应的所述独立焊盘接触时，所述电信号提供设备(400)用于提供点亮所述测试组件区(110)及所述有效发光区(130)的电信号。