[发明专利]P型背结接触钝化电池正面局域重扩方法及电池制备方法在审
申请号: | 202010915777.6 | 申请日: | 2020-09-03 |
公开(公告)号: | CN111816554A | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 袁声召;崔艳峰;庄宇峰;于元元;胡玉婷;杨斌;张文超;万义茂 | 申请(专利权)人: | 东方日升新能源股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/268 | 分类号: | H01L21/268;H01L31/18 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 王丽莎 |
地址: | 315600 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 型背结 接触 钝化 电池 正面 局域 方法 制备 | ||
本申请涉及太阳电池领域,具体而言,涉及一种P型背结接触钝化电池正面局域重扩方法及电池制备方法。在背面沉积有隧穿氧化层及多晶硅薄膜的P型硅片的正面金属区域印刷硼浆;然后利用激光将硼浆中的硼打入硅中。本申请采用硼浆作为硅片正面局域重扩的硼源,然后利用激光将硼浆中的硼打入硅中,能够在P型背结接触钝化电池的正面形成局域重扩区域以形成欧姆接触,从而提高P型背结接触钝化电池的转换效率。而且本申请采用硼浆作为硅片正面局域重扩的硼源,能够极大地降低P型背结接触钝化电池的生产成本,适于产业化。利用激光将硼浆中的硼打入硅中,工艺步骤简单,操作性强。
技术领域
本申请涉及太阳电池领域,具体而言,涉及一种P型背结接触钝化电池正面局域重扩方法及电池制备方法。
背景技术
接触钝化电池(TOPCon)是采用遂穿氧化物钝化晶体硅表面,获得表面钝化,并以高掺杂硅薄膜实现选择性接触。由于接触钝化电池(TOPCon)进行了表面钝化,有效降低了表面复合速率。而且由于接触钝化电池(TOPCon)以高掺杂硅薄膜实现选择性接触,避免了一些背面氧化物钝化高效电池的背面开孔接触工艺。
由于接触钝化电池(TOPCon)优异的性能,自2013年诞生以来,迅速成为光伏行业炙手可热的技术。接触钝化电池(TOPCon)其实验室电池效率快速增长。2017年,德国Fraunhoferise研究机构发布的小面积N型TOPCon电池效率达到了25.8%。相比于PERC电池,TOPCon电池效率高出0.5~1%;且相比于PERC电池,TOPCon电池没有光衰。
然而,目前的接触钝化电池(TOPCon)的研究大多集中在N型TOPCon电池。例如,中国CN 110571304 A公开了一种N型钝化接触双面太阳电池的制作方法,主要包括:背面沉积氮化硅薄膜、去绕度及制绒、边缘隔离、去除BSG、沉积正面钝化层氧化铝层和氮化硅层、丝网印刷和烧结,得到钝化接触双面太阳电池。中国专利CN 110299434 A公开了一种N型双面太阳电池制作方法,主要包括:对N型的硅片进行预清洗,并在背面进行磷扩散形成N+层,去除表面的PSG、硅片边缘和正面的扩散层;在硅片的背面覆盖氮化硅层,去除正面氮化硅层,再在硅片正面制绒;在硅片正面进行硼扩散,制备PN结,然后去除BSG;在硅片正面制备钝化层和减反射层,并印刷和烧结,得到N型双面电池。
但是这些N型TOPCon电池由于其结构特点限制,仍然存在效率损失的问题。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种P型背结接触钝化电池正面局域重扩方法及电池制备方法,能够在P型背结接触钝化电池的正面形成局域重扩区域以形成欧姆接触,提高背结接触钝化电池转换效率,且工艺步骤简单。
第一方面,本申请提供一种P型背结接触钝化电池正面局域重扩的方法,包括以下步骤:
在背面沉积有隧穿氧化层及多晶硅薄膜的P型硅片的正面金属区域印刷硼浆;然后利用激光将硼浆中的硼打入硅中。
第二方面,本申请提供一种P型背结接触钝化电池的制备方法,包括:
采用上述的P型背结接触钝化电池正面局域重扩的方法进行正面局域重扩。
本发明的有益效果包括:本申请采用硼浆作为硅片正面局域重扩的硼源,然后利用激光将硼浆中的硼打入硅中,能够在P型背结接触钝化电池的正面形成局域重扩区域以形成欧姆接触,从而提高P型背结接触钝化电池的转换效率。而且本申请采用硼浆作为硅片正面局域重扩的硼源,利用激光将硼浆中的硼打入硅中,工艺步骤简单,操作性强。相对于现有技术中,N型TOPCon电池需要在正面进行硼扩散形成硼扩发射结,本申请采用P型衬底避免了硼扩散步骤,极大地简化了TOPCon电池生产工艺。而且硼浆成本较低,能够极大地降低P型背结接触钝化电池的生产成本,更加适于产业化。
附图说明
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造