[发明专利]一种高精度集成轨道几何参数测量方法

权利要求书

1.一种高精度集成轨道几何参数测量方法，所述集成轨道包括多条目标轨道，其特征在于，包括以下步骤：

(1)通过光源照射目标轨道；

(2)通过图像采集设备对目标轨道上的图像进行采集；

(3)对采集的图像通过图像识别算法提取目标轨道成像的光条图像信息；

(4)将光源和图像接收设备同时移动设定距离后，判断光源和图像接收设备是否移动至目标轨道的末端：当光源和图像接收设备移动至目标轨道的末端时，执行下一步骤；当光源和图像接收设备未移动至目标轨道的末端时，跳转至(1)步骤；

(5)将提取的目标轨道的各个光条图像信息沿该轨道方向进行拟合，得到目标轨道的几何参数；

(6)将各条目标轨道的外形几何统一基准，得到集成轨道的整体几何参数。

2.根据权利要求1所述的高精度集成轨道几何参数测量方法，其特征在于，所述通过光源照射目标轨道，具体包括：光源垂直照射目标轨道。

3.根据权利要求1所述的高精度集成轨道几何参数测量方法，其特征在于，所述通过图像采集设备对目标轨道上的图像进行采集，具体包括：图像采集设备以与光源入射角成30°～60°范围的位置进行图像采集。

4.根据权利要求1所述的高精度集成轨道几何参数测量方法，其特征在于，所述将光源和图像接收设备同时移动设定距离后，还包括通过里程记录设备自动触发图像采集设备进行图像采集。

5.根据权利要求1所述的高精度集成轨道几何参数测量方法，其特征在于，所述将各条目标轨道的外形几何统一基准，得到集成轨道的整体几何参数，具体包括：各个目标轨道外形几何尺寸进行坐标系统一，得到各个目标轨道之间的相对位置关系。

6.根据权利要求1-5中任意一项所述的高精度集成轨道几何参数测量方法，其特征在于，所述集成轨道包括走行轨与接触轨。