[发明专利]一种高精度集成轨道几何参数测量方法

说明书

本申请提供一种高精度集成轨道几何参数测量方法，集成轨道包括多条目标轨道，包括以下步骤：通过光源照射目标轨道；通过图像采集设备对目标轨道上的图像进行采集；对采集的图像通过图像识别算法提取光条图像信息；将光源和图像接收设备同时移动设定距离后继续提取光条图像信息，直至光源和图像接收设备移动遍历目标轨道；将提取的目标轨道的各个光条图像信息沿该轨道方向进行拟合，得到目标轨道的几何参数；将各条目标轨道的外形几何统一基准，得到集成轨道的整体几何参数。采用高精度识别算法对图像中的光条进行提取，提高了轨道几何参数测量的效率和准确度；通过非接触式测量手段实现了对集成轨道总体几何参数情况的评价。

技术领域

本公开涉及轨道检测技术领域，具体涉及一种高精度集成轨道几何参数测量方法。

背景技术

铁路轨道的几何尺寸偏差，直接影响列车行驶的平稳性、舒适性和安全性，甚至会威胁乘客的生命财产安全。而且随着列车速度越来越快，对轨道平稳性的要求越来越高，对轨道几何状态评价的准确度也越来越高。

现有轨道几何参数测量方法大多独立进行，走行轨与接触轨分别进行，不能从总体上对轨道几何状态进行评价。而且现有走行轨的状态测量都是采用接触式手段，机械积累误差较大，严重影响轨道几何状态的评价结果。

发明内容

本申请的目的是针对以上问题，提供一种高精度集成轨道几何参数测量方法。

第一方面，本申请提供一种高精度集成轨道几何参数测量方法，所述集成轨道包括多条目标轨道，包括以下步骤：

(1)通过光源照射目标轨道；

(2)通过图像采集设备对目标轨道上的图像进行采集；

(3)对采集的图像通过图像识别算法提取目标轨道成像的光条图像信息；

(4)将光源和图像接收设备同时移动设定距离后，判断光源和图像接收设备是否移动至目标轨道的末端：当光源和图像接收设备移动至目标轨道的末端时，执行下一步骤；当光源和图像接收设备未移动至目标轨道的末端时，跳转至(1)步骤；

(5)将提取的目标轨道的各个光条图像信息沿该轨道方向进行拟合，得到目标轨道的几何参数；

(6)将各条目标轨道的外形几何统一基准，得到集成轨道的整体几何参数。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述通过光源照射目标轨道，具体包括：光源垂直照射目标轨道。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述通过图像采集设备对目标轨道上的图像进行采集，具体包括：图像采集设备以与光源入射角成30°～60°范围的位置进行图像采集。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述将光源和图像接收设备同时移动设定距离后，还包括通过里程记录设备自动触发图像采集设备进行图像采集。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述将各条目标轨道的外形几何统一基准，得到集成轨道的整体几何参数，具体包括：各个目标轨道外形几何尺寸进行坐标系统一，得到各个目标轨道之间的相对位置关系。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述集成轨道包括走行轨与接触轨。

本发明相较于现有技术具有以下有益效果：

1.采用非接触式测量手段，摒弃传统的接触式、人工观察测量的方法，提高了轨道几何参数测量的效率和准确度；

2.采用高精度识别算法对光条进行提取，测量精度高；

3.实现了对集成轨道总体几何参数情况的评价，是面向轨道几何参数测量的一种创新性技术。

附图说明

图1为本申请第一种实施例的流程图。