[发明专利]测试系统

权利要求书

1.一种用于在空中测试被测设备(34)的测试系统，其中所述测试系统(10)包括用于所述被测设备(34)的测试位置(26)、面向所述测试位置(26)的反射器(24)和朝向所述反射器(24)的测量馈送天线(28)，从而通过所述反射器(24)在所述测量馈送天线(28)和测试位置(26)之间建立信号路径，其中所述测试系统(10)包括用于所述被测设备(34)的定位器(42)，所述定位器(42)能够将所述被测设备(34)旋转到所述被测设备(34)的至少四个不同的测量位置，并且其中所述测试系统(10)包括第二测量天线(32)，当将所述被测设备(34)放置在所述测试位置(26)上时，所述第二测量天线(32)的位置偏离所述被测设备(34)的面向所述第二测量天线(32)的一侧面(36)的中心(C)。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其中在所述测试系统(10)的俯视图中，测量馈送天线(28)和所述测试位置(26)的中心位于公共轴线(A)上，其中所述第二测量天线(32)的位置偏离所述公共轴线(A)。

3.根据权利要求1或2所述的测试系统，其中所述第二测量天线(32)的位置偏离所述测量馈送天线(28)与所述测试位置(26)之间的视轴。

4.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统，其中所述被测设备(34)的面向所述第二测量天线(32)的一侧面(36)不能借助于所述测量馈送天线(28)来测量。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的测试系统，其中所述被测设备(34)的面向所述第二测量天线(32)的一侧面(36)相对于所述被测设备(34)的在所述被测设备(34)的至少四个不同的测量位置上被所述测量馈送天线(28)测量的侧面垂直。

6.根据前述权利要求中的任一项所述的测试系统，其中所述测量馈送天线(28)和第二测量天线(32)一起被配置为在由所述定位器(42)建立的单个测量位置上相对于1.5个侧面对所述被测设备(34)进行测试。

7.根据前述权利要求中的任一项所述的测试系统，其中所述测量馈送天线(28)和第二测量天线(32)一起被配置为在由所述定位器(42)建立的两个不同测量位置上相对于三个侧面对所述被测设备(34)进行测试。

8.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统，其中所述定位器(42)能够沿着单个轴线旋转所述被测设备(34)。

9.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统，其中所述被测设备(34)的至少四个不同的测量位置与所述被测设备(34)的彼此垂直的至少四个不同的侧面相关联。

10.根据权利要求9所述的测试系统，其中所述被测设备(34)的至少四个不同侧面涉及所述被测设备(34)的正面、所述被测设备(34)的背面以及所述被测设备(34)的至少两个相对的横侧面，所述至少两个相对的横侧面分别并入所述正面和所述背面。

11.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统，其中所述测试系统(10)被配置为测试所述被测设备(34)的相对于彼此垂直的五个不同侧面。

12.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统，其中所述测试系统(10)包括具有信号发生器和/或信号分析仪的测量设备。

13.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统，其中提供多个位置偏离的偏置天线。

14.根据前述权利要求中任一项所述的测试系统，其中由所述测量馈送天线(28)与所述反射器(24)一起建立静区(38)，并且其中所述测试位置(26)位于所述静区内(38)。