[发明专利]测试系统在审
申请号: | 202010947123.1 | 申请日: | 2020-09-10 |
公开(公告)号: | CN114172594A | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 科比特·罗威尔;贝努瓦·德拉;亨利·格洛普;马库斯·赫布里格 | 申请(专利权)人: | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
主分类号: | H04B17/20 | 分类号: | H04B17/20;H04M1/24 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 谭营营;胡彬 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 系统 | ||
一种测试系统,用于在空中测试被测设备。该测试系统包括用于被测设备的测试位置、面向测试位置的反射器和指向反射器的测量馈送天线,从而通过反射器在测量馈送天线和测试位置之间建立信号路径。该测试系统包括用于被测设备的定位器,其能够将被测设备旋转到被测设备的至少四个不同的测量位置。该测试系统包括第二测量天线,将被测设备放置在测试位置上时,所述第二测量天线的位置偏离所述被测设备的面向第二测量天线的一侧面的中心。还公开一种在空中测试被测设备的方法。
技术领域
本发明涉及一种用于在空中(OTA)测试被测设备的测试系统。
背景技术
在现有技术中,已知借助具有测试室的测试系统来测试被测设备(DUT),在该测试室中放置各个被测设备用于测试目的。这些测试系统涉及所谓的紧凑型天线测试范围(CATR),因为即使测试室尺寸很小,也可以测试被测设备的远场特性。通常,测试系统包括用于测试被测设备的馈送天线,其中馈送天线接收被天线转换为无线电波的测试信号,该测试信号被用于测试被测设备。
为了完全测试被测设备的特性,还已知使用定位器和/或多个天线以测试被测设备的所有不同侧面。定位器必须是多轴定位器,但是它很昂贵,从而增加了测试系统的总体成本。实际上,到目前为止,已知有两种不同的方法可以适当地测试被测设备,例如,频率范围1(FR1)或频率范围2(FR2)的移动设备(例如手机)。
这些方法涉及使用多个直接远场(DFF)天线,这些天线放置在被测设备的天线模块所处的精确位置,从而确保各个直接远场天线与各个天线模块中的专用天线模块之一通信。但是,必须为每个单个设备重新放置直接远场天线,从而增加了测试被测设备所需的工作量。或者,可以将单个直接远场天线与复杂的定位器一起使用,该定位器可以使被测设备沿不同的轴移动,以到达不同的测量位置。然而,这花费大量时间,从而增加了测试被测设备的总成本。
因此,需要一种简单且成本效益高的方法来空中测试被测设备。
发明内容
本发明提供了一种用于空中测试被测设备的测试系统。测试系统包括用于被测设备的测试位置、朝向测试位置的反射器和指向反射器的测量馈送天线,从而通过反射器在测量馈送天线与测试位置之间建立信号路径。测试系统包括用于被测设备的定位器,该定位器能够将被测设备旋转到被测设备的至少四个不同的测量位置。测试系统包括第二测量天线,当将被测设备放置在测试位置上时,该第二测量天线的位置偏离被测设备的面向第二天线的一侧面的中心。
本发明基于这样的发现:通过测量馈送天线和反射器相互作用,可以建立间接远场特性,其中附加的测量天线,即第二测量天线,用于与放置在测试位置的被测设备直接交互。换句话说,第二测量天线与直接远场天线有关,因为第二测量天线与被测设备直接相互作用。通常,当将被测设备放置在测试位置上时,两个天线,即测量馈送天线和第二测量天线,至少部分覆盖被测设备的不同侧面,从而减少空中测试被测设备的整体工作量。由于第二测量天线的位置偏离被测设备的面向第二测量天线的一侧面的中心,因此相应的第二测量天线的位置也偏离测量馈送天线,该测量馈送天线通常定向使得其中心轴线与被测设备的中心轴线重合,尤其是被测设备的面向第二测量天线的一侧面的中心。换句话说,被测设备、测量馈送天线和/或测试位置的中心轴线彼此重合,而第二测量天线的中心轴线相对于测试系统先前提到的组件的彼此重合的中心轴线偏移。
被测设备可能涉及移动电话,尤其是支持5G通信的移动电话。例如,被测设备与频率范围1(FR1)或频率范围2(FR2)的移动设备(例如移动手机)有关。
使测试系统能够在至少四个不同的测量位置测试被测设备,同时借助定位器旋转被测设备。因此,在适当旋转被测设备时,借助于定位器将被测设备转换成至少四个不同的测量位置。在每个不同的测量位置上,被测设备的一个特定侧面面对反射器,其中该特定侧面是在各个测量位置上通过测量馈送天线进行空中测试的那个侧面。
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