[发明专利]一种存储器的数据读写方法及相关设备

权利要求书

1.一种存储器的数据读写方法，其特征在于，包括：

获取针对于存储器的读取指令或写入指令，所述读取指令或所述写入指令与目标数据相对应；

确定所述存储器的坏列位置信息，所述存储器的坏列位置信息指示所述存储器中的比特坏列的位置信息；

响应所述读取指令或所述写入指令，根据所述坏列位置信息对所述目标数据进行读取操作或写入操作。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述存储器的坏列位置信息包括：

将测试数据写入所述存储器；

对所述存储器进行数据读取，得到第一数据；

将所述第一数据与所述测试数据进行对比，以确定出所述存储器中每个页的比特坏列位置；

将目标比特位置对应的位置信息确定为所述存储器的坏列位置信息，所述目标比特位置为所述存储器中多个页中比特坏列位置相同的比特位置。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据所述坏列位置信息确定所述存储器的字节坏列集合以及所述字节坏列集合中每个字节坏列对应的比特坏列；

根据所述存储器的字节坏列集合生成所述存储器对应的字节坏列模板；

根据所述字节坏列集合中每个字节坏列对应的比特坏列生成所述存储器对应的比特坏列模板。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应所述写入指令，根据所述坏列位置信息将所述目标数据进行写入操作包括：

检索所述字节坏列模板确定所述存储器中的字节坏列集合；

检索所述比特坏列模板确定所述字节坏列集合中每个字节坏列对应的第一比特坏列；

将所述第一比特坏列插入无效数据，得到第二比特坏列；

将所述目标数据与所述第二比特坏列对应的数据重组后写入所述存储器。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述响应所述读取指令，根据所述坏列位置信息对所述目标数据进行读取操作包括：

检索所述字节坏列模板确定所述存储器中的字节坏列集合；

检索所述比特坏列模板确定所述字节坏列集合中每个字节坏列对应的第三比特坏列；

根据所述读取指令读取所述目标数据，所述目标数据为所述存储器中存储的与所述读取指令对应的数据；

将所述目标数据中除所述第三比特坏列对应的数据之外的数据进行数据重组，以完成对所述目标数据的读取操作。

6.一种存储器的数据读写装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取针对于存储器的读取指令或写入指令，所述读取指令或所述写入指令与目标数据相对应；

确定单元，用于确定所述存储器的坏列位置信息，所述存储器的坏列位置信息指示所述存储器中的比特坏列的位置信息；

处理单元，用于响应所述读取指令或所述写入指令，根据所述坏列位置信息对所述目标数据进行读取操作或写入操作。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述确定单元具体用于：

将测试数据写入所述存储器；

对所述存储器进行数据读取，得到第一数据；

将所述第一数据与所述测试数据进行对比，以确定出所述存储器中每个页的比特坏列位置；

将目标比特位置对应的位置信息确定为所述存储器的坏列位置信息，所述目标比特位置为所述存储器中多个页中比特坏列位置相同的比特位置。

8.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

模板生成单元，用于：

根据所述坏列位置信息确定所述存储器的字节坏列集合以及所述字节坏列集合中每个字节坏列对应的比特坏列；

根据所述存储器的字节坏列集合生成所述存储器对应的字节坏列模板；

根据所述字节坏列集合中每个字节坏列对应的比特坏列生成所述存储器对应的比特坏列模板。