[发明专利]一种圆弧砂轮修整器笔尖旋转半径测量仪及其测量方法

权利要求书

1.一种圆弧砂轮修整器笔尖旋转半径测量仪，其特征在于：包括

基座，所述基座上设置有

测量台，所述测量台上设置有显微镜，所述显微镜通过Y上下调整装置和X左右调整装置设置在测量台上；所述显微镜的光轴与圆弧砂轮修整旋转轴平行。

2.根据权利要求1所述的圆弧砂轮修整器笔尖校正仪，其特征在于：所述显微镜的镜头内带有十字测量线，十字测量线的交点与显微镜光轴重合。

3.根据权利要求1或2所述的圆弧砂轮修整器笔尖校正仪，其特征在于：所述测量台与显微镜相对的一侧设置有用于放置圆弧砂轮修整器的安装台阶或滑槽。

4.根据权利要求3所述的圆弧砂轮修整器笔尖校正仪，其特征在于：所述安装台阶或滑槽上设置有固定装置，所述固定装置用于固定圆弧砂轮修整器在所述安装台阶或滑槽中的位置并保证砂轮修整器的旋转轴与显微镜的光轴平行。

5.根据权利要求1或2所述的圆弧砂轮修整器笔尖校正仪，其特征在于：所述X左右调整装置设有线性测量装置可以清晰表示显微镜移动的距离。

6.一种修整笔尖左右对中校正方法，包括

安装砂轮修整器，使得砂轮修整器的旋转轴C1-C1’与显微镜的十字线中心光轴C2-C2’始终平行；

调整显微镜对焦使得砂轮修整器的修整笔尖在显微镜清晰成像；

左右旋转修整笔各90°，在显微镜中观察调整修整笔笔尖最高点，调整修整笔，使得左右两边的整修整笔笔尖最高点在同一高度或同一水平线上，即完成了修整笔尖的左右对中。

7.根据权利要求6所述的修整笔尖左右对中校正方法，其特征在于，还包括调整显微镜位置，可以调整使得显微镜的十字线中心光轴C2-C2’与砂轮修整器的旋转轴C1-C1’重合。

8.一种修整笔尖旋转半径的测量方法，包括

使得显微镜的十字线中心光轴C2-C2’与砂轮修整器的旋转轴C1-C1’始终平行，让修整笔尖与显微镜的物镜距离保持在可视距离内后固定砂轮修整器；

调整显微镜对焦使得砂轮修整器的修整笔尖在显微镜的成像；

左右旋转修整笔各90°，在显微镜中观察调整修整笔笔尖最高点，使得左右两边的整修整笔笔尖最高点在同一高度或同一水平线上；

左旋转笔尖90°，通过X左右调整测量装置调整显微镜十字测量线，让十字测量线的竖线与笔尖最高点重合，记录X左右调整测量装置的读数；

右旋转笔尖90°，通过X左右调整测量装置调整显微镜十字测量线，让十字测量线的竖线与笔尖最高点重合；记录X左右调整测量装置的读数；利用两次读数计算出修整笔尖的旋转半径R。

9.根据权利要求8所述修整笔尖旋转半径的测量方法，其特征在于，

左旋转笔尖90°，通过X左右调整测量装置调整显微镜十字测量线，让十字测量线的竖线与笔尖最高点重合，让X左右调整测量装置数显的归零；

然后右旋转笔尖90°，通过X左右调整测量装置调整显微镜十字测量线，让十字竖线与笔尖最高点重合，读出X左右调整测量装置的数显读数，所述数显读数值除以二得到修整笔尖的旋转半径。

10.根据权利要求8所述修整笔尖旋转半径的测量方法，其特征在于，

左旋转笔尖90°，通过X左右调整测量装置调整显微镜十字测量线，让十字测量线的竖线与笔尖最高点重合，记录X左右调整测量装置的读数；

然后右旋转笔尖90°，通过X左右调整测量装置调整显微镜十字测量线，让十字竖线与笔尖最高点重合，记录X左右调整测量装置的读数；所述两次读数差值除以二得到修整笔尖的旋转半径。