[发明专利]处理系统、处理方法及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010951576.1 申请日: 2020-09-11
公开(公告)号: CN112630780A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 齐藤真扩;高桥宏昌 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G01S15/02 分类号: G01S15/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 徐殿军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 处理 系统 方法 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种处理系统,其中,

所述处理系统具有处理装置,所述处理装置如果通过包括沿第一方向排列的多个检测元件而朝向焊接对象发送超声波并检测反射波的检测器检测出所述反射波,则执行根据检测结果判定所述检测器是否与所述焊接对象接触的第一判定。

2.根据权利要求1所述的处理系统,其中,

所述处理装置在判定为所述检测器与所述焊接对象接触时,根据所述检测结果执行所述检测器相对于所述焊接对象的倾斜的计算或者所述焊接对象的检查。

3.根据权利要求1所述的处理系统,其中,

所述处理装置在判定为所述检测器与所述焊接对象接触时,根据在所述第一判定中使用的所述检测结果,执行所述检测器相对于所述焊接对象的倾斜的计算或者所述焊接对象的检查。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的处理系统,其中,

所述处理装置从所述检测结果中提取检测出多重反射波的部分,根据提取出的所述部分的所述反射波执行所述第一判定。

5.根据权利要求4所述的处理系统,其中,

所述处理装置将对提取出的所述部分的所述反射波的强度进行累计或者平均得到的第一判定值,与预先设定的第一阈值进行比较,由此执行所述第一判定。

6.根据权利要求5所述的处理系统,其中,

所述处理装置从所述检测器与构件接触时的所述反射波的第一检测结果中提取检测出多重反射波的第一部分,对所述第一部分的所述反射波的强度进行平均或者累计来计算第一参照值,

所述处理装置从所述部件和所述检测器分离时的所述反射波的第二检测结果中提取检测出多重反射波的第二部分,对所述第二部分的所述反射波的强度进行平均或者累计来计算第二参照值,

在所述第一参照值和所述第二参照值之间设定所述第一阈值。

7.根据权利要求1~3中任一项所述的处理系统,其中,

所述处理装置将所述检测结果所包含的所述反射波的峰值的周期、峰值的位置或者频谱的位置,与预先设定的条件进行比较,由此执行所述第一判定。

8.根据权利要求1~3中任一项所述的处理系统,其中,

所述处理装置在判定为所述检测器未与所述焊接对象接触时通知用户。

9.根据权利要求1~3中任一项所述的处理系统,其中,

所述处理系统还具有:

所述检测器;

可动机构,包括致动器,安装有所述检测器;

控制装置,控制所述检测器及所述可动机构。

10.根据权利要求1~3中任一项所述的处理系统,其中,

所述处理系统还具有显示装置,显示包括表示所述检测结果的图像的用户界面。

11.根据权利要求10所述的处理系统,其中,

所述处理装置在所述用户界面中受理用户对所述图像输入的范围的指定,

所述处理装置将对指定的所述范围中的所述反射波的强度进行累计或者平均得到的第一判定值,与预先设定的第一阈值进行比较,由此执行所述第一判定。

12.一种处理方法,其中,

如果通过包括沿第一方向排列的多个检测元件而朝向焊接对象发送超声波并检测反射波的检测器检测出所述反射波,则根据检测结果判定所述检测器是否与所述焊接对象接触。

13.根据权利要求12所述的处理方法,其中,

在判定为所述检测器与所述焊接对象接触时,根据所述检测结果执行所述检测器相对于所述焊接对象的倾斜的计算或者所述焊接对象的检查。

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