[发明专利]用于改善处理器时钟信号端电磁辐射的电路结构及其形成方法

说明书

本发明提供了提供一种用于改善处理器时钟信号端电磁辐射的电路结构及其形成方法，其中所述用于改善处理器时钟信号端电磁辐射的电路结构包括一处理器，所述处理器包括至少一时钟信号端、一功能模块、一脉冲宽度调制信号端口以及一IO端口，其中所述功能模块与所述时钟信号端电性连接，所述脉冲宽度调制信号端口和所述IO端口之间电性连接一线路而形成至少一抵消回路，从而抵消所述时钟信号端与所述功能模块之间电性连接而产生的电磁辐射。通过本发明所述用于改善处理器时钟信号端电磁辐射的电路结构不仅能够利用处理器内部的元件实现电磁场抵消，从而实现处理器时钟信号端电磁辐射的改善，而且不会产生额外的电磁辐射。

技术领域

本发明设计电磁辐射的技术领域，具体而言，本发明涉及一种用于改善处理器时钟信号端电磁辐射的电路结构。

背景技术

随着电子产品的使用越来越普及，对其安全性的要求也越来越高，电磁辐射成为人们比较关注的焦点，主要通过EMC测试进行检验，EMC测试又叫做电磁兼容EMC，指的是对电子产品在电磁场方面干扰大小EMI和抗干扰能力EMS的综合评定，是电子产品质量最重要的指标之一，其目的是检测电器产品所产生的电磁辐射对人体、公共场所电网以及其他正常工作之电器产品的影响。电磁兼容是研究在有限的空间、时间、频谱资源条件下，各种用电设备广义还包括生物体可以共存，并不致引起降级的一门学科，它包括电磁干扰和电磁敏感度两部分，电磁干扰测试是测量被测设备在正常工作状态下产生并向外发射的电磁波信号的大小来反应对周围电子设备干扰的强弱，电磁敏感度测试是测量被测设备对电磁骚扰的抗干扰的能力强弱。

在电子产品PCB板级别的EMC测试中的RE测试是电路板安规测试指标中一个非常重要的参数，各种国际标准都对这个指标有着严格的要求，由于电磁辐射往往以很多不可预期的频段出现，需要根据实际的测试情况才能反映出来，因此，该RE测试很容易超标，可以说对于每个电子产品，其电子硬件工程师都有可能花费很多时间和很多测试费用去解决这个问题。

而解决问题的首要是需要对问题进行精准定位，没有定位过程的整改，就像无头苍蝇一样到处乱撞。问题定位有两种手段，一是考工程师的直觉判断，需要完全依靠工程师积累的EMC经验来判断；二是比较测试，依靠仪器和EMC经验的结合对问题进行详细的定位判断。一般从两个方面考虑，一是机器设备所连接的各种电源线缆和信号线缆，通过拔插检测定位，然后根据现象采取不同的整改措施；二是与结构设计是否合理有较大的关系，屏蔽体泄露会对RE辐射超标有很大的影响。

面对RE辐射常规的解决方法大致有两种，一是设法找到辐射源，通过修改电路电阻电气参数来降低辐射，虽然减小了RE测试超标问题，但是常常会引入其他问题，比如信号驱动能力的下降引起信号质量的不良，且需要多比较多的实验来论证方法的稳定性，因为一个RE测试超标问题，将很多前期电路稳定性实验重新做一遍，增加了时间成本。

除此以外，还有一部分的信号因为电路结构本身的原因，因此从电路上去除比较困难，这种情况下目前现有技术中的普遍做法是通过增加金属屏蔽框的办法对所产生的电磁辐射进行遮挡。但这种办法也有其固有缺点，首先，由于要增加金属屏蔽框，因此势必会增加电路结构本身的零件数量以及电路结构的体积，这对于一些小微型的电子产品而言适用度显然受到限制；此外，由于增加金属屏蔽框，因此这种办法也会增加比较多的成本，这使产品的成本控制以及消费者的接受度也会受到影响。

如图1所示，为现有技术中的RE辐射的测试图片。如图所示，在图中的1、2、3、4四个点都是EMC超标的点，其中第1点频率为125MHZ，第2点频率为375MHZ，第3点频率为625MHZ，第4点频率为875MHZ，而125MHZ为时钟本源，超出标准，其他3个频率分别为125MHZ的3,5,7倍频率，也都存在压线情况。

发明内容

本发明的一个优势在于提供一种用于改善处理器时钟信号端电磁辐射的电路结构，所述用于改善处理器时钟信号端电磁辐射的电路结构能够利用处理器内部的元件实现电磁场抵消，从而实现处理器时钟信号端电磁辐射的改善。