[发明专利]一种基于PXIe总线的集成电路测试系统在审
申请号: | 202010964118.1 | 申请日: | 2020-09-15 |
公开(公告)号: | CN112067979A | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 乔宏志;张海庆;徐宝令;阎涛;丁志钊;王亚海 | 申请(专利权)人: | 中电科仪器仪表有限公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317 |
代理公司: | 青岛华慧泽专利代理事务所(普通合伙) 37247 | 代理人: | 刘娜 |
地址: | 266000 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 pxie 总线 集成电路 测试 系统 | ||
1.一种基于PXIe总线的集成电路测试系统,其特征在于,包括机台背板、系统电源、接口板和测试基板,所述机台背板上集成有功能测试模块,所述系统电源为机台背板提供电源,所述接口板对内通过所述机台背板实现与各功能测试模块的数据通信,对外通过PXIe总线实现与主控模块的通信;所述测试基板与功能测试模块连接,且所述测试基板上安装有测试夹具;
所述接口板包括输入输出接口模块、信号产生模块、信号路由模块和PCI接口模块,所述输入输出接口模块通过信号产生模块与信号路由模块和机台背板连接,所述信号路由模块通过PCI接口模块或者直接与机台背板连接;所述信号产生模块包括背板时钟控制单元、板载时钟及校准单元和时钟生成单元,所述板载时钟及校准单元包括锁相环和恒温振荡器。
2.根据权利要求1所述的一种基于PXIe总线的集成电路测试系统,其特征在于,所述输入输出接口模块包括时钟输入接口和时钟输出接口,所述时钟输入接口用于输入其他设备提供的参考时钟给背板时钟控制单元和板载时钟及校准单元,所述时钟输出接口用于输出板载时钟及校准单元产生的板载时钟、外部接入时钟,以及时钟生成单元生成的时钟。
3.根据权利要求1所述的一种基于PXIe总线的集成电路测试系统,其特征在于,所述机台背板包括背板时钟和系统触发总线,所述背板时钟控制单元与背板时钟信号连接,所述信号路由模块与系统出发总线信号连接。
4.根据权利要求1所述的一种基于PXIe总线的集成电路测试系统,其特征在于,所述板载时钟及校准单元和时钟生成单元均与信号路由模块连接,所述时钟生成单元还连接外部接入时钟,所述板载时钟及校准单元与背板时钟控制单元连接。
5.根据权利要求1所述的一种基于PXIe总线的集成电路测试系统,其特征在于,所述机台背板通过电源管理模块与系统电源连接。
6.根据权利要求2所述的一种基于PXIe总线的集成电路测试系统,其特征在于,所述时钟输入接口连接锁相环,所述锁相环通过恒温振荡器连接背板时钟控制单元、时钟输出接口和信号路由单元,所述恒温振荡器连接恒温振荡器校准单元。
7.根据权利要求1所述的一种基于PXIe总线的集成电路测试系统,其特征在于,所述功能测试模块包括射频测试模块、数字测试模块、模拟测试模块和电源测试模块。
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