[发明专利]一种基于PXIe总线的集成电路测试系统

说明书

本发明公开了一种基于PXIe总线的集成电路测试系统，包括机台背板、系统电源、接口板和测试基板，机台背板上集成有功能测试模块，接口板对内实现与各功能测试模块的数据通信，对外通过PXIe总线实现与主控模块的通信；接口板包括输入输出接口模块、信号产生模块、信号路由模块和PCI接口模块，输入输出接口模块通过信号产生模块与信号路由模块和机台背板连接，信号路由模块通过PCI接口模块或者直接与机台背板连接；信号产生模块包括背板时钟控制单元、板载时钟及校准单元和时钟生成单元，板载时钟及校准单元包括锁相环和恒温振荡器。本发明所公开的测试系统测试效率高，可保证测试模块之间的同步性，可提供可靠的时钟出发及同步信号。

技术领域

本发明涉及集成电路测试系统，特别涉及一种基于PXIe总线的集成电路测试系统。

背景技术

微波半导体芯片(RFIC)需要测试射频、数模、电源类参数，测试参数较多，这就需要多种模块提供多功能测试通道进行测试。为解决高效能、稳定可靠、适配应用、多通道多参数并行测试等技术问题，需要的测试平台具有高集成度、可重构扩展和资源动态调度等功能。现今的集成电路测试平台基本以仪器搭建的测试平台，体积笨重并且集成化较低，可重构性差。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明提供了一种基于PXIe总线的集成电路测试系统，以达到测试效率高，可保证测试模块之间的同步性，可提供可靠的时钟出发及同步信号的目的。

为达到上述目的，本发明的技术方案如下：

一种基于PXIe总线的集成电路测试系统，包括机台背板、系统电源、接口板和测试基板，所述机台背板上集成有功能测试模块，所述系统电源为机台背板提供电源，所述接口板对内通过所述机台背板实现与各功能测试模块的数据通信，对外通过PXIe总线实现与主控模块的通信；所述测试基板与功能测试模块连接，且所述测试基板上安装有测试夹具；

所述接口板包括输入输出接口模块、信号产生模块、信号路由模块和PCI接口模块，所述输入输出接口模块通过信号产生模块与信号路由模块和机台背板连接，所述信号路由模块通过PCI接口模块或者直接与机台背板连接；所述信号产生模块包括背板时钟控制单元、板载时钟及校准单元和时钟生成单元，所述板载时钟及校准单元包括锁相环和恒温振荡器。

上述方案中，所述输入输出接口模块包括时钟输入接口和时钟输出接口，所述时钟输入接口用于输入其他设备提供的参考时钟给背板时钟控制单元和板载时钟及校准单元，所述时钟输出接口用于输出板载时钟及校准单元产生的板载时钟、外部接入时钟，以及时钟生成单元生成的时钟。

上述方案中，所述机台背板包括背板时钟和系统触发总线，所述背板时钟控制单元与背板时钟信号连接，所述信号路由模块与系统出发总线信号连接。

上述方案中，所述板载时钟及校准单元和时钟生成单元均与信号路由模块连接，所述时钟生成单元还连接外部接入时钟，所述板载时钟及校准单元与背板时钟控制单元连接。

上述方案中，所述机台背板通过电源管理模块与系统电源连接。

上述方案中，所述时钟输入接口连接锁相环，所述锁相环通过恒温振荡器连接背板时钟控制单元、时钟输出接口和信号路由单元，所述恒温振荡器连接恒温振荡器校准单元。

上述方案中，所述功能测试模块包括射频测试模块、数字测试模块、模拟测试模块和电源测试模块。

通过上述技术方案，本发明提供的一种基于PXIe总线的集成电路测试系统具有如下有益效果：

(1)可随时拆卸测试板进行更换，测试效率提高；

(2)可保证测试模块之间的同步性；

(3)可提供可靠的时钟触发及同步信号；

(4)可减小集成电路测试仪的空间。