[发明专利]一种直接测量放射源源效率的装置和方法

权利要求书

1.一种直接测量放射源源效率的装置，其特征在于，包括探测装置、γ检测支路、β检测支路、符合电路、计数器和处理单元；

所述探测装置包括：

γ探测器：用于对探测装置内放射源试样进行γ探测；

表面发射率探测器：用于对探测装置内放射源试样进行β探测；

γ高压电源：用于向γ探测器提供高压；

β高压电源：用于向表面发射率探测器提供高压；

所述γ探测器检测的γ道信号通过所述γ检测支路处理后发送至符合电路和计数器；所述表面发射率探测器检测的β道信号通过所述β检测支路处理后发送至符合电路和计数器；所述符合电路将处理后的γ道信号和处理后的β道信号符合后生成符合道信号并发送至计数器；

所述计数器根据处理后的γ道信号获取γ道计数率；所述计数器根据处理后的β道信号获取β道计数率；所述计数器根据所述符合道信号获取符合道计数率；所述计数器将γ道计数率、β道计数率和符合道计数率发送至处理单元；

所述处理单元对接收到的数据处理获取放射源的放射性活度值和放射源的表面发射率，并根据所述放射性活度值和所述表面发射率计算放射源的源效率。

2.根据权利要求1所述的一种直接测量放射源源效率的装置，其特征在于，所述γ检测支路包括依次串联的γ主放模块、γ单道模块和γ门电路。

3.根据权利要求2所述的一种直接测量放射源源效率的装置，其特征在于，所述γ主放模块对所述γ道信号进行放大；所述γ单道模块将放大后的γ道信号甄别掉噪声信号；所述γ门电路将甄别后的γ道信号发送至符合电路和计数器。

4.根据权利要求1所述的一种直接测量放射源源效率的装置，其特征在于，所述β检测支路包括依次串联的β前置放大模块、β主放模块、β单道模块和β门电路。

5.根据权利要求4所述的一种直接测量放射源源效率的装置，其特征在于，所述β前置放大模块对所述β道信号进行前置放大；所述β主放模块对前置放大后的β道信号进行放大；所述β单道模块将放大后的β道信号甄别掉噪声信号；所述β门电路将甄别后的β道信号发送至符合电路和计数器。

6.根据权利要求1所述的一种直接测量放射源源效率的装置，其特征在于，所述处理单元对γ道计数率、β道计数率和符合道计数率进行相应的本底修正、偶然符合修正、死时间修正和β探测器的γ灵敏度修正后获取平面放射源的放射性活度值。

7.根据权利要求1所述的一种直接测量放射源源效率的装置，其特征在于，所述处理单元对β道计数率经过本底修正、死时间修正以及小能量损失修正后获取放射源的表面发射率。

8.根据权利要求1所述的一种直接测量放射源源效率的装置，其特征在于，所述符合电路根据接收到的处理后的γ道信号和处理后的β道信号生成脉冲信号，并将所述脉冲信号作为符合道信号发送至计数器。

9.使用权利要求1~8任意一项所述的一种直接测量放射源源效率的装置的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：对放射源试样进行相应的γ能谱测量、坪曲线测量和相对延迟时间测量，并进行死时间和符合分辨时间的调节，获取修正数据；

S2：根据γ能谱的测量结果设定γ高压电源输出的电压值和对应的γ窗；并根据坪曲线的测量结果设定β高压电源输出的电压值；

S3：在探测装置内不放置放射源试样进行测量获取β道本底计数率、γ道本底计数率和符合道本底计数率；

S4：将待测放射源置于探测装置内部进行放射源测量，获取β道计数率、γ道计数率和符合道计数率；

S5：利用修正数据和本底数据对所述β道计数率、γ道计数率和符合道计数率进行修正后，获取平面放射源的表面发射率和放射性活度值；所述本底数据包括β道本底计数率、γ道本底计数率和符合道本底计数率；

S6：利用测得的平面放射源的表面发射率和放射性活度值，计算得到该平面放射源的源效率。

10.根据权利要求9所述的一种直接测量放射源源效率的装置的方法，其特征在于，步骤S5包括以下子步骤：

使用β道本底计数率对β道计数率进行本底修正；使用γ道本底计数率对γ道计数率进行本底修正；使用符合道本底计数率对符合道计数率进行本底修正；

根据所述修正数据对本底修正后的β道计数率、γ道计数率和符合道计数率进行死时间修正和偶然符合修正后利用参数法、效率外推法或效率示踪法进行数据处理，获得放射源的放射性活度值；

将本底修正后的β道计数率进行死时间修正和小能量损失修正后得到平面放射源的表面发射率。