[发明专利]一种直接测量放射源源效率的装置和方法

说明书

本发明公开了一种直接测量放射源源效率的装置，计数器根据处理后的γ道信号获取γ道计数率；计数器根据处理后的β道信号获取β道计数率；计数器根据符合道信号获取符合道计数率；计数器将γ道计数率、β道计数率和符合道计数率发送至处理单元；处理单元对接收到的数据处理获取放射源的放射性活度值和放射源的表面发射率，并根据放射性活度值和表面发射率计算放射源的源效率。本发明还公开了一种直接测量放射源源效率的方法。本发明一种直接测量放射源源效率的装置和方法，可以同时测量平面放射源的表面发射率和放射性活度，从而直接得到平面放射源的源效率，具有非常好的便捷性和可复现性。

技术领域

本发明涉及核技术应用及放射性核素测量领域，具体涉及一种直接测量放射源源效率的装置和方法。

背景技术

平面放射源广泛应用于辐照灭菌、辐照育种、辐照加工以及放射治疗等核技术应用领域，是一类应用非常广泛的放射源。平面放射源一般采用将放射性物质固定在源衬底的方式制成，其固定放射性物质的方法主要有直接滴源法、电沉积法、真空蒸发法、离子溅射法以及电喷涂法等方法，所采用的源衬底材料一般为铜、铝以及不锈钢等金属材料或其他类型的非金属材料。

衡量平面放射源品质优劣的重要指标主要是平面放射源的活度A、表面发射率q以及源效率ε，其中源效率为表面发射率与活度的比值，即ε＝q/A×100％。平面放射源的活度是指平面放射源内部放射性物质单位时间内发生放射性衰变的次数，而平面放射源的表面发射率是指单位时间内的从平面源内部发射出来的某种类型的放射性粒子的数目。由于放射性物质的自吸收作用，以及源衬底材料对所发射的粒子的膜吸收或反散射等因素的影响，从平面放射源内部发射出的某种类型的粒子数并不等于发生放射性衰变的次数，即平面放射源的活度与表面发射率并不一致，或平面源的源效率并不恒为100％。

测量平面放射源表面发射率的装置主要是采用多丝正比室原理制造的表面发射率测量装置，其采用多丝正比室的原理，对从平面放射源内部发射出来的放射性粒子能够达到趋近于100％的探测效率。而平面放射源的活度一般则只能根据制造该平面放射源时所消耗的放射性物质的活度测得，因此平面放射源的源效率一般也只能在制源过程中才能确定。对于某些已经应用于相应实践中的平面放射源，由于实验人员并不一定了解制源过程中所消耗的放射性物质的准确信息，因此不能获取其关于源效率的信息。另外，对于采用电沉积法、真空蒸发法等方法制造的平面放射源，由于无法准确测得其所消耗的放射性物质的活度，因此该类方法制造的平面放射源也不能给出其源效率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是现有技术无法对放射源的源效率进行直接测量，目的在于提供一种直接测量放射源源效率的装置和方法，解决上述问题。

本发明通过下述技术方案实现：

一种直接测量放射源源效率的装置，包括探测装置、γ检测支路、β检测支路、符合电路、计数器和处理单元；

所述探测装置包括：

γ探测器：用于对探测装置内试样进行γ探测；

表面发射率探测器：用于对探测装置内试样进行β探测；

γ高压电源：用于向γ探测器提供高压；

β高压电源：用于向表面发射率探测器提供高压；

所述γ探测器检测的γ道信号通过所述γ检测支路处理后发送至符合电路和计数器；所述表面发射率探测器检测的β道信号通过所述β检测支路处理后发送至符合电路和计数器；所述符合电路将处理后的γ道信号和处理后的β道信号符合后生成符合道信号并发送至计数器；

所述计数器根据处理后的γ道信号获取γ道计数率；所述计数器根据处理后的β道信号获取β道计数率；所述计数器根据所述符合道信号获取符合道计数率；所述计数器将γ道计数率、β道计数率和符合道计数率发送至处理单元；