[发明专利]泥质烃源岩分岩石类型评价方法、装置、电子设备及介质在审
| 申请号： | 202010969740.1 | 申请日： | 2020-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN114428089A | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 赵国伟;史政;胡烨;罗开平;杨帆;邓模 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/207;G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人： | 孙向民;廉莉莉 |
| 地址： | 100027 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 泥质烃源岩分 岩石 类型 评价 方法 装置 电子设备 介质 | ||
1.一种泥质烃源岩分岩石类型评价方法，其特征在于，包括：
对目标烃源岩开展矿物组成测定，确定所述目标烃源岩的岩石类型；
确定不同岩石类型烃源岩的厚度评价指标；
确定不同岩石类型烃源岩有机质评价指标；
获取不同岩石类型烃源岩的评价指标平面分布特征；
通过所述评价指标平面分布特征，综合评价不同岩石类型泥质烃源岩。
2.根据权利要求1所述的泥质烃源岩分岩石类型评价方法，其中，所述矿物组成测定包括：全岩X-衍射分析、元素测井、薄片镜下观察、手持X-射线荧光光谱仪分析。
3.根据权利要求1所述的泥质烃源岩分岩石类型评价方法，其中，所述岩石类型包括硅质型烃源岩、钙质型烃源岩、粘土质烃源岩。
4.根据权利要求1所述的泥质烃源岩分岩石类型评价方法，其中，所述有机质评价指标包括：有机质丰度、有机质类型、有机质成熟度。
5.根据权利要求4所述的泥质烃源岩分岩石类型评价方法，其中，所述评价指标平面分布特征包括：不同岩石类型烃源岩的厚度平面分布、有机质丰度平面分布、有机质类型平面分布、有机质成熟度平面分布。
6.一种泥质烃源岩分岩石类型评价装置，其特征在于，包括：
测定模块，对目标烃源岩开展矿物组成测定，确定所述目标烃源岩的岩石类型；
厚度评价模块，确定不同岩石类型烃源岩的厚度评价指标；
有机质评价模块，确定不同岩石类型烃源岩有机质评价指标；
平面分布特征获取模块，获取不同岩石类型烃源岩的评价指标平面分布特征；
评价模块，通过所述评价指标平面分布特征，综合评价不同岩石类型泥质烃源岩。
7.根据权利要求6所述的泥质烃源岩分岩石类型评价装置，其中，所述岩石类型包括硅质型烃源岩、钙质型烃源岩、粘土质烃源岩。
8.根据权利要求6所述的泥质烃源岩分岩石类型评价装置，其中，所述评价指标平面分布特征包括：不同岩石类型烃源岩的厚度平面分布、有机质丰度平面分布、有机质类型平面分布、有机质成熟度平面分布。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
存储器，存储有可执行指令；
处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现权利要求1-5中任一项所述的泥质烃源岩分岩石类型评价方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任一项所述的泥质烃源岩分岩石类型评价方法。
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