[发明专利]泥质烃源岩分岩石类型评价方法、装置、电子设备及介质在审

专利信息
申请号: 202010969740.1 申请日: 2020-09-15
公开(公告)号: CN114428089A 公开(公告)日: 2022-05-03
发明(设计)人: 赵国伟;史政;胡烨;罗开平;杨帆;邓模 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
主分类号: G01N23/20 分类号: G01N23/20;G01N23/207;G01N23/223
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 孙向民;廉莉莉
地址: 100027 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 泥质烃源岩分 岩石 类型 评价 方法 装置 电子设备 介质
【说明书】:

公开了一种泥质烃源岩分岩石类型评价方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括:对目标烃源岩开展矿物组成测定,确定目标烃源岩的岩石类型;确定不同岩石类型烃源岩的厚度评价指标;确定不同岩石类型烃源岩有机质评价指标;获取不同岩石类型烃源岩的评价指标平面分布特征;通过评价指标平面分布特征,综合评价不同岩石类型泥质烃源岩。本发明通过对不同岩石类型泥质烃源岩分别开展评价,为精细刻画烃源岩岩石类型非均质性、精确评价烃源岩特征与规模提供依据,进而为油气高效勘探提供帮助,在油气资源评价、非常规油气勘探等石油勘探开发领域具有一定的应用价值。

技术领域

本发明涉及石油勘探开发领域,更具体地,涉及一种泥质烃源岩分岩石类型评价方法、装置、电子设备及介质。

背景技术

国内外大量的油气勘探实践和油气成烃成藏理论研究表明,盆地内发育优质烃源岩是形成大中型油气田的必要条件之一,对烃源岩开展精细评价是明确盆地勘探潜力的重要手段之一。目前,对泥质烃源岩评价主要通过有机质丰度、有机质类型、有机质成熟度、烃源岩发育规模等烃源岩常规评价指标来完成。但是,烃源岩存在着强烈的非均质性,钙质矿物、硅质矿物与粘土质矿物在同一套烃源岩内也有变化。不同的岩性和矿物组成也会对烃源岩评价和资源预测带来了重要影响。研究表明,由于不同矿物组合对可溶有机质的吸附性、岩石脆韧性及微裂缝发育程度影响的差异性,不同岩石类型烃源岩的生排滞烃效率也有所差异,其主要表现在成熟早-中期排油效率和排油量的明显不同。因此,有必要将岩石类型作为烃源岩评价指标,这对精细刻画烃源岩具有重要的意义。

但目前的勘探实践与研究往往忽视泥质烃源岩中岩石类型上的非均质性,通常将一套烃源岩层系作为一个岩石类型开展评价,这势必会造成评价结果难以精确反映烃源岩层系总体特征与规模。

因此,有必要开发一种泥质烃源岩分岩石类型评价方法、装置、电子设备及介质。

公开于本发明背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的一般背景技术的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明提出了一种泥质烃源岩分岩石类型评价方法、装置、电子设备及介质,其能够通过对不同岩石类型泥质烃源岩分别开展评价,为精细刻画烃源岩岩石类型非均质性、精确评价烃源岩特征与规模提供依据,进而为油气高效勘探提供帮助,在油气资源评价、非常规油气勘探等石油勘探开发领域具有一定的应用价值。

第一方面,本公开实施例提供了一种泥质烃源岩分岩石类型评价方法,包括:

对目标烃源岩开展矿物组成测定,确定所述目标烃源岩的岩石类型;

确定不同岩石类型烃源岩的厚度评价指标;

确定不同岩石类型烃源岩有机质评价指标;

获取不同岩石类型烃源岩的评价指标平面分布特征;

通过所述评价指标平面分布特征,综合评价不同岩石类型泥质烃源岩。

优选地,所述矿物组成测定包括:全岩X-衍射分析、元素测井、薄片镜下观察、手持X-射线荧光光谱仪分析。

优选地,所述岩石类型包括硅质型烃源岩、钙质型烃源岩、粘土质烃源岩。

优选地,所述有机质评价指标包括:有机质丰度、有机质类型、有机质成熟度。

优选地,所述评价指标平面分布特征包括:不同岩石类型烃源岩的厚度平面分布、有机质丰度平面分布、有机质类型平面分布、有机质成熟度平面分布。

作为本公开实施例的一种具体实现方式,

第二方面,本公开实施例还提供了一种泥质烃源岩分岩石类型评价装置,包括:

测定模块,对目标烃源岩开展矿物组成测定,确定所述目标烃源岩的岩石类型;

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