[发明专利]一种基于ICP-MS高通量分析的装置

权利要求书

1.一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，包括ICP-MS分析仪、雾化室、雾化器和样品流水线，所述雾化器从样品流水线中汲取样品后进入雾化室内，所述雾化室内的样品气雾通过进料管进入ICP-MS分析仪进行分析；

所述雾化器包括雾化器壳体、气管、内管、内标管和雾化器探针，所述雾化器壳体套接在内管的外部，所述雾化器探针和雾化器壳体的一端部固定连接，所述雾化器探针和内管连通，所述内管的一端部还连通有内标管。

2.根据权利要求1所述的一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，所述样品流水线包括转盘、样品瓶、吸管和瓶盖，所述转盘上均匀分布有圆孔，所述样品瓶安装在圆孔内，所述吸管固定安装在瓶盖内部，所述瓶盖可拆卸连接在样品瓶端口处。

3.根据权利要求2所述的一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，所述样品流水线下方连接有底座，所述底座内部内置有电机，所述转盘固定安装在电机的转轴上。

4.根据权利要求1所述的一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，所述内标管远离雾化器的端部通过软管连接有内标瓶，所述内标管和内标瓶连接的管路上安装有用于汲取内标瓶内液体的蠕动泵。

5.根据权利要求1所述的一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，所述气管远离雾化器的一端部连接有用于提供高速空气气流的气泵。

6.根据权利要求5所述的一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，所述气管安装在雾化器壳体的筒身上，所述气管和雾化器壳体的连接口处对应内管的中部位置，所述雾化器壳体的一端部内伸入雾化室内部。

7.根据权利要求1所述的一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，所述雾化器探针和吸管为可拆卸连接，所述雾化器探针靠近吸管的位置设有凹槽，槽内安装橡胶垫，所述吸管插入凹槽后橡胶垫挤压密封吸管和凹槽连接缝隙。

8.根据权利要求1所述的一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，所述雾化室的底部连接有一根用于排出液体的废液管。

9.根据权利要求8所述的一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，所述雾化室的底部呈圆弧状。

10.根据权利要求1所述的一种基于ICP-MS高通量分析的装置，其特征在于，所述雾化器为超声波雾化装置。