[发明专利]一种基于ICP-MS高通量分析的装置

说明书

本发明涉及无机同位素分析技术领域，具体的说是一种基于ICP‑MS高通量分析的装置，包括ICP‑MS分析仪、雾化室、雾化器和样品流水线，所述雾化器从样品流水线中汲取样品后进入雾化室内，所述雾化室内的样品气雾通过进料管进入ICP‑MS分析仪进行分析，从而实现尽可能短的过程管路，减少样品提升时间和冲洗时间，提供系统的整体的样品通量。通过专门的样品瓶设计，将样品取样针一次性固化在样品瓶中；在自动进样过程中取消泵管，通过专门的雾化器设计结合自动化控制样品瓶直接进行连接；通过以上两点，从而实现尽可能短的过程管路，减少样品提升时间和冲洗时间，提供系统的整体的样品通量，同时避免样品间交叉污染的发生。

技术领域

本发明涉及无机同位素分析技术领域，具体的说是一种基于ICP-MS高通量分析的装置。

背景技术

ICP-MS是一种利用电感耦合等离子体作为离子源，按质荷比进行分离检测的无机同位素分析手段。ICP-MS相对其他无机分析手段，比如原子吸收，原子荧光，ICP光谱具有灵敏度高，检出限低，动态线性范围宽，多元素分析，准确度高等优点以及特有的同位素分析能力，因此获得了越来越广泛的应用。

ICP-MS可以对固体、液体、气体等不同样品进行分析时，通常进行不同的前处理方法将各种样品转化为液体，然后通过动力装置带入。ICP-MS的进样系统通常包括蠕动泵、雾化器、雾化室。而从样品经过的通道来分析，样品进样品瓶，到进样管，到雾化器，雾化室，最后进入矩管。通常样品管通过蠕动泵转动挤压送入雾化器，样品在雾化器的特有结构中由于雾化气的高速气流转为气溶胶颗粒，雾化室筛选较小粒径分布的气溶胶颗粒进入矩管。

ICP-MS完成一次样品的分析时间包括样品提升时间，数据采集时间和冲洗时间。由于数据采集速度很快，时间相对较小，样品的提升和冲洗时间成了影响了整体系统分析的通量的主要原因。

现有ICP-MS技术中存在的显著问题是：在大量样品的情况下，自动进样器的使用成为普遍需求。当前结合自动进样器的ICP-MS系统。主要存在以下几个问题：(1)由于采用样品臂，样品为与雾化器入口的距离加长，导致样品提升的时间加长，样品管中交叉污染的概率提高。(2)样品取样针取样时需要插入样品瓶，样品管的清洗流程复杂。

发明内容

为解决上述现有技术中存在的技术问题，本发明提供一种基于ICP-MS高通量分析的装置，通过专门的样品瓶设计，将样品取样针一次性固化在样品瓶中；在自动进样过程中取消泵管，通过专门的雾化器设计结合自动化控制样品瓶直接进行连接；通过以上两点，从而实现尽可能短的过程管路，减少样品提升时间和冲洗时间，提供系统的整体的样品通量，同时避免样品间交叉污染的发生。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种基于ICP-MS高通量分析的装置，包括ICP-MS分析仪、雾化室、雾化器和样品流水线，所述雾化器从样品流水线中汲取样品后进入雾化室内，所述雾化室内的样品气雾通过进料管进入ICP-MS分析仪进行分析，从而实现尽可能短的过程管路，减少样品提升时间和冲洗时间，提供系统的整体的样品通量。

进一步地，所述雾化室的底部连接有一根用于排出液体的废液管，所述雾化室的底部呈圆弧状。

所述雾化器包括雾化器壳体、气管、内管、内标管和雾化器探针，所述雾化器壳体套接在内管的外部，所述雾化器探针和雾化器壳体的一端部固定连接，所述雾化器探针和内管连通，所述内管的一端部还连通有内标管。样品通过雾化器探针雾化后进入内管，所述内标瓶内试剂也通过内管进入雾化室内。

进一步地，所述雾化器为超声波雾化装置。

所述样品流水线包括转盘、样品瓶、吸管和瓶盖，所述转盘上均匀分布有圆孔，所述样品瓶安装在圆孔内，所述吸管固定安装在瓶盖内部，所述瓶盖可拆卸连接在样品瓶端口处。