[发明专利]光子计数探测器去极化的方法、系统和计算机设备

权利要求书

1.一种光子计数探测器去极化的方法，其特征在于，所述方法包括：

根据晶体生长过程中产生的缺陷能级，确定光照设备的光照波长范围；

根据所述光照波长范围，控制所述光照设备照射所述光子计数探测器，其中，在所述光照设备的光子能量不小于所述缺陷能级的情况下，周期性切换所述光照设备的开启和关闭，来照射所述光子计数探测器。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据晶体生长过程中产生的缺陷能级，确定所述光照设备的光照波长范围包括：

根据所述缺陷能级，确定所述光照设备的光子能量范围；

根据所述光子能量范围，确定所述光照设备的光照波长范围。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述光照波长范围为1000-1500nm。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述周期性切换所述光照设备的开启和关闭，来照射所述光子计数探测器包括：

获取空穴被捕获的捕获时间以及所述空穴解捕获的解捕获时间；

根据所述捕获时间和所述解捕获时间，确定所述光照设备的光照周期；

根据所述光照周期切换所述光照设备的开启和关闭，来照射所述光子计数探测器。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取所述空穴被捕获的捕获时间，并获取所述空穴解捕获的解捕获时间包括：

利用预设的空穴被捕获的光照波长照射光子计数探测器，记录光子计数探测器达到极化的第一时间集；

利用预设的空穴被解捕获的光照波长照射光子技术探测器，记录光子计数探测器去极化的第二时间集；

根据第一时间集和第二时间集，确定捕获时间和解捕获时间。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，在周期性切换所述光照设备的开启和关闭的情况下，所述光照设备的开启时间小于或等于20ms，所述光照设备的关闭时间小于或等于20ms。

7.一种光子计数探测器去极化的系统，其特征在于，所述系统包括处理器、光子计数探测器和光照设备；

所述处理器，用于根据晶体生长过程中产生的缺陷能级，确定光照设备的光照波长范围；

所述处理器，根据所述光照波长范围，控制所述光照设备照射所述光子计数探测器，其中，在所述光照设备的光子能量不小于所述缺陷能级的情况下，周期性切换所述光照设备的开启和关闭，来照射所述光子计数探测器。

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至6中任一项所述的光子计数探测器去极化的方法。

9.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至6中任一项所述的光子计数探测器去极化的方法。