[发明专利]光子计数探测器去极化的方法、系统和计算机设备

说明书

本申请涉及一种光子计数探测器去极化的方法、系统和计算机设备，其中，该光子计数探测器去极化的方法包括：通过根据晶体生长过程中产生的缺陷能级，确定光照设备的光照波长范围，根据所述光照波长范围，控制所述光照设备照射所述光子计数探测器，解决了相关技术中光子计数能谱CT的光子计数探测器计数不精确的问题，提高了光子计数能谱CT中光子计数探测器计数精度。

技术领域

本申请涉及医疗设备领域，特别是涉及光子计数探测器去极化的方法、系统和计算机设备。

背景技术

电子计算机断层扫描技术(Computed Tomography，简称CT)，它是利用精确准直的X线束、γ射线、超声波等，与灵敏度极高的探测器一同围绕人体的某一部位作一个接一个的断面扫描，具有扫描时间快，图像清晰等特点，可用于多种疾病的检查，但由于现有CT探测器的局限，X射线所携带的能量信息还没有被充分的利用起来，而光子计数探测器技术，可以很好的克服传统CT探测器所存在的不足，与传统CT相比，基于光子计数探测器的能谱CT具有可实现材料成分分析、降低病人辐射剂量、提高CT定量分析准确性和实现超高空间分辨率等优点。

在相关技术中，光子计数能谱CT的核心是光子计数探测器，它是通过在探测器专用读出电路中添加信号幅度分析器件来分辨不同能量的光子，从而得到不同能量区间的光子计数，目前的光子计数探测器多是基于半导体材料制备的，诸如，GaAs、CdTe、CdZnTe(CZT)等，但是这些半导体材料因在晶体生长过程中存在生长缺陷，导致在X射线的照射下存在极化现象，特别是在高束流条件下，X射线和光子计数探测器材料(如CdTe、CdZnTe(CZT))的相互作用生成电子空穴对，电子空穴对中的空穴在输运过程中会被半导体材料中的空位所捕获，捕获的空穴会在半导体材料内部形成空间电荷区，该空间电荷区会导致探测器内部的电场发射畸变，并且该电场强度会随时间变化，从而导致探测器的响应随着时间的变化存在不稳定性，使得光子计数能谱CT中的光子计数探测器计数不精确的问题。

目前针对相关技术中光子计数能谱CT的光子计数探测器计数不精确的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种光子计数探测器去极化的方法、系统和计算机设备，以至少解决相关技术中光子计数能谱CT的光子计数探测器计数不精确的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种光子计数探测器去极化的方法，所述方法包括：

根据晶体生长过程中产生的缺陷能级，确定光照设备的光照波长范围；

根据所述光照波长范围，控制所述光照设备照射所述光子计数探测器。

在其中一些实施例中，所述根据晶体生长过程中产生的缺陷能级，确定所述光照设备的光照波长范围包括：

根据所述缺陷能级，确定所述光照设备的光子能量范围；

根据所述光子能量范围，确定所述光照设备的光照波长范围。

在其中一些实施例中，在所述光照设备的光子能量不小于所述缺陷能级的情况下，所述光照波长范围为1000-1500nm。

在其中一些实施例中，在所述光照设备的光子能量不小于所述缺陷能级的情况下，所述控制光照设备照射所述光子计数探测器为：

周期性切换所述光照设备的开启和关闭，来照射所述光子计数探测器。

在其中一些实施例中，所述周期性切换所述光照设备的开启和关闭，来照射所述光子计数探测器包括：

获取所述空穴被捕获的捕获时间以及所述空穴解捕获的解捕获时间；

根据所述捕获时间和所述解捕获时间，确定所述光照设备的光照周期。

根据所述光照周期切换所述光照设备的开启和关闭，来照射所述光子计数探测器。