[发明专利]一种芯片寄存器的验证方法、系统及相关装置在审
申请号: | 202010989136.5 | 申请日: | 2020-09-18 |
公开(公告)号: | CN112131829A | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 王莹 | 申请(专利权)人: | 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 |
主分类号: | G06F30/398 | 分类号: | G06F30/398 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 高勇 |
地址: | 250001 山东省济南市自由贸易试验*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 寄存器 验证 方法 系统 相关 装置 | ||
1.一种芯片寄存器的验证方法,其特征在于,包括:
获取所述芯片寄存器的描述性文档;所述描述性文档包含所述芯片寄存器的定义信息;
利用RAL指令将所述描述性文档转为UVM寄存器模型类;
根据所述UVM寄存器模型类生成RAL模型;
将所述RAL模型集成至UVM验证平台,并在所述UVM验证平台中对所述芯片寄存器进行覆盖率统计。
2.根据权利要求1所述的验证方法,其特征在于,将所述RAL模型集成至UVM验证平台包括:
在所述UVM验证平台中创建测试区块;
将所述RAL模型的map组件与所述测试区块中的RAL适配器、sequence序列均建立连接。
3.根据权利要求2所述的验证方法,其特征在于,根据所述UVM寄存器模型类生成得到RAL模型时,还包括:
创建所述RAL适配器,并利用所述RAL适配器对序列生成的第一类型变量转化所述RAL模型的需求类型变量。
4.根据权利要求1所述的验证方法,其特征在于,在所述UVM验证平台中对所述芯片寄存器进行覆盖率统计包括:
配置测试序列;
在所述UVM验证平台中利用所述测试序列对所述芯片寄存器进行覆盖率统计。
5.根据权利要求4所述的验证方法,其特征在于,若所述覆盖率统计包括代码覆盖率和功能覆盖率,在所述UVM验证平台中利用所述测试序列对所述芯片寄存器进行覆盖率统计包括:
在所述UVM验证平台中利用所述测试序列分别进行所述芯片寄存器的读写测试、初始化测试、复位测试和特殊读写权限测试,并根据各项测试的测试结果得到所述代码覆盖率和所述功能覆盖率。
6.根据权利要求1所述的验证方法,其特征在于,并在所述UVM验证平台中对所述芯片寄存器进行覆盖率统计时,还包括:
调用镜像预测器读取所述芯片寄存器的值,并更新至所述RAL模型。
7.根据权利要求1所述的验证方法,其特征在于,所述芯片寄存器的定义信息包括所述芯片寄存器所属模块的基地址、所属模块的寄存器偏移地址、所述芯片寄存器的结构信息、所述芯片寄存器的初始值、所述芯片寄存器的读写权限和所述芯片寄存器的硬件电路路径中的一项或者任意几项的组合;
所述结构信息包括所述芯片寄存器包含的域、域名称、域在所述芯片寄存器中的偏移地址。
8.一种芯片寄存器的验证系统,其特征在于,包括:
获取模块,用于获取所述芯片寄存器的描述性文档;所述描述性文档包含所述芯片寄存器的定义信息;
类型转化模块,用于利用RAL指令将所述描述性文档转为UVM寄存器模型类;
模型生成模块,用于根据所述UVM寄存器模型类生成RAL模型;
验证模块,用于将所述RAL模型集成至UVM验证平台,并在所述UVM验证平台中对所述芯片寄存器进行覆盖率统计。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-7任一项所述的芯片寄存器的验证方法的步骤。
10.一种电子设备,其特征在于,包括存储器和处理器,所述存储器中存有计算机程序,所述处理器执行所述存储器中的计算机程序时实现如权利要求1-7任一项所述的芯片寄存器的验证方法的步骤。
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