[发明专利]一种芯片寄存器的验证方法、系统及相关装置

说明书

本申请提供一种芯片寄存器的验证方法，包括：获取所述芯片寄存器的描述性文档；所述描述性文档包含所述芯片寄存器的定义信息；利用RAL指令将所述描述性文档转为UVM寄存器模型类；根据所述UVM寄存器模型类生成RAL模型；将所述RAL模型集成至UVM验证平台，并在所述UVM验证平台中对所述芯片寄存器进行覆盖率统计。本申请便于对芯片寄存器进行高效和自动化验证，保证了寄存器验证的可靠性，提高寄存器验证的效率。本申请还提供一种芯片寄存器的验证系统、计算机可读存储介质和电子设备，具有上述有益效果。

技术领域

本申请涉及微电子领域，特别涉及一种芯片寄存器的验证方法、系统及相关装置。

背景技术

芯片项目的验证过程中，经常存在大量的寄存器功能需要进行验证。UVM(Universal Verification Methodology,通用验证方法学)对寄存器验证的两种方法：一是前门访问：启动sequence序列读取寄存器，通过对同一寄存器读到的值与写入的值进行比较，然而此种方式工作量大。二是后门访问：通过寄存器模型进行访问，但寄存器模型本身的编写实现较复杂不能提高验证效率。换句话说，前门访问是通过物理总线向DUT(Device Under Test，测试中设备)发起寄存器访问操作，消耗仿真时间，而后门操作不通过物理总线，不消耗仿真时间。无论哪种方式，其芯片验证效率均较低。因此，如何提高芯片寄存器的验证效率是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种芯片寄存器的验证方法、系统、计算机可读存储介质和电子设备，能够提高芯片寄存器的验证效率。

为解决上述技术问题，本申请提供一种芯片寄存器的验证方法，具体技术方案如下：

获取所述芯片寄存器的描述性文档；所述描述性文档包含所述芯片寄存器的定义信息；

利用RAL指令将所述描述性文档转为UVM寄存器模型类；

根据所述UVM寄存器模型类生成RAL模型；

将所述RAL模型集成至UVM验证平台，并在所述UVM验证平台中对所述芯片寄存器进行覆盖率统计。

可选的，将所述RAL模型集成至UVM验证平台包括：

在所述UVM验证平台中创建测试区块；

将所述RAL模型的map组件与所述测试区块中的RAL适配器、sequence序列均建立连接。

可选的，根据所述UVM寄存器模型类生成得到RAL模型时，还包括：

创建所述RAL适配器，并利用所述RAL适配器对序列生成的第一类型变量转化所述RAL模型的需求类型变量。

可选的，在所述UVM验证平台中对所述芯片寄存器进行覆盖率统计包括：

配置测试序列；

在所述UVM验证平台中利用所述测试序列对所述芯片寄存器进行覆盖率统计。

可选的，若所述覆盖率统计包括代码覆盖率和功能覆盖率，在所述UVM验证平台中利用所述测试序列对所述芯片寄存器进行覆盖率统计包括：

在所述UVM验证平台中利用所述测试序列分别进行所述芯片寄存器的读写测试、初始化测试、复位测试和特殊读写权限测试，并根据各项测试的测试结果得到所述代码覆盖率和所述功能覆盖率。

可选的，并在所述UVM验证平台中对所述芯片寄存器进行覆盖率统计时，还包括：

调用镜像预测器读取所述芯片寄存器的值，并更新至所述RAL模型。