[发明专利]一种磁角度传感器测试装置在审
申请号: | 202010989469.8 | 申请日: | 2020-09-18 |
公开(公告)号: | CN112097821A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 黄黎;蒋乐跃;丁希聪;储莉玲 | 申请(专利权)人: | 美新半导体(无锡)有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G01B7/30;G01D5/14 |
代理公司: | 苏州简理知识产权代理有限公司 32371 | 代理人: | 朱亦倩 |
地址: | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 角度 传感器 测试 装置 | ||
1.一种磁角度传感器测试装置,其特征在于,其包括:
第一基板;
电机,其设置于所述第一基板上,所述电机包括电机主体和电机转轴;
磁场源,其用于产生外磁场,所述磁场源设置于所述第一基板上,在测试时所述磁场源保持不动;
其中,待测磁角度传感器固定于所述电机的电机转轴上,且与所述磁场源相对。
2.根据权利要求1所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
所述待测磁角度传感器为磁角度传感器芯片,
所述待测磁角度传感器的感测平面为所述磁角度传感器芯片的表面。
3.根据权利要求1所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
所述电机转轴的中心、磁场源的中心和待测磁角度传感器的中心位于同一共轴线上。
4.根据权利要求3所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
所述磁场源的磁化方向垂直所述共轴线;和/或
所述磁场源在所述待测磁角度传感器处产生的外磁场平行于所述待测磁角度传感器的感测平面。
5.根据权利要求1所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,其还包括连接部件,
所述待测磁角度传感器和电机转轴保持一定的距离,且所述待测磁角度传感器通过所述连接部件固定于所述电机转轴上。
6.根据权利要求5所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
所述连接部件采用无磁材料;和/或
装载所述待测磁角度传感器的测试座或印刷电路板及连接线采用无磁材料。
7.根据权利要求1所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
所述磁场源为永磁体,所述永磁体的形状为圆柱体磁体或长方体磁体,
所述圆柱体磁体的磁化方向沿其直径方向;
所述长方体磁体的磁化方向沿其任一边方向。
8.根据权利要求1所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
所述磁场源为类亥姆霍兹线圈的双磁体,所述类亥姆霍兹线圈的双磁体等效于电流固定不变的亥姆霍兹线圈。
9.根据权利要求8所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
所述类亥姆霍兹线圈型双磁体包括相对且间隔设置的第一永磁体单元和第二永磁体单元,
所述第一永磁单元和第二永磁体单元邻近面的磁极为分别为N极和S极;
所述类亥姆霍兹线圈型双磁体的空间磁场指向为N极指向S极。
10.根据权利要求9所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
所述第一永磁体单元和第二永磁体单元均为圆盘形永磁体单元,其半径为R,其磁化方向为其厚度方向;
所述第一永磁单元和第二永磁体单元的中心距离等于所述圆盘形永磁体单元的半径R。
11.根据权利要求9所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
所述第一永磁单元和第二永磁体单元均为正方形永磁体单元或长方形永磁体单元,且正方形永磁体单元和长方形永磁体单元的磁化方向沿其厚度方向。
12.根据权利要求1所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,其还包括设置于所述第一基板上的第一升降台和第二升降台,
所述电机放置于第一升降台上,且沿所述基板平面放置;
所述磁场源放置于第二升降台上。
13.根据权利要求1所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,
其还包括第一升降台、第二升降台和第二基板,
所述电机垂直于所述基板的平面放置;
所述第一升降台和第二升降台放置于所述第一基板上,且分别位于所述电机的两侧;
所述第二基板位于第一升降台和第二升降台上,且位于所述电机转轴的上方;
所述磁场源设置于所述第二基板上。
14.根据权利要求1所述的磁角度传感器测试装置,其特征在于,其还包括:
伺服控制器,其用于控制所述电机的电机转轴旋转至预定旋转角度;
信号处理电路,其在所述电机转轴旋转至预定旋转角度后,采集待测磁角度传感器输出的角度信号,并以所述预定旋转角度作为参考角度,结合所述待测磁角度传感器输出的角度信号来检测所述待测磁角度传感器的性能参数。
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