[发明专利]用于检测电池分子衰变的芯片、电池活性保护系统及方法

说明书

本申请提出一种用于检测电池分子衰变的芯片、电池活性保护系统及方法，具体方案为：通过第一计时器在第一触发器采集的上升沿的触发下开始计时生成第一计数值，第二计时器在第二触发器采集的下降沿的触发下开始计时生成第二计数值，比较器在第一计数值和第二计数值一致时输出目标标志位并发送给第一输出开关和第二输出开关，以使第一输出开关和第二输出开关在接收到目标标志位时分别输出第一计数值和第二计数值至处理单元，处理单元根据第一计数值和第一计时器的晶振频率计算得到第一时间，根据第二计数值和第二计时器的晶振频率计算得到第二时间，进而计算第二时间与第一时间的差值得到电池分子衰变时间，能够提高电池分子衰变检测的精度。

技术领域

本申请涉及新能源汽车技术领域，尤其涉及一种用于检测电池分子衰变的芯片、电池活性保护系统及方法。

背景技术

目前，电动汽车越来越成为主流的售卖车型。对于电动汽车而言，电池寿命与续航能力是客户主要关心的问题。为了准确的测算电动汽车的续航里程、电池寿命与保养策略，需要对电池内电子与分子的衰变进行检测，这要求时间进度非常高，信号传输速度非常快，因此需要用现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)设计来检测电池分子衰变。

FPGA电路设计需要对10皮秒级的分子衰变进行检测，然而，目前的硬件芯片时钟晶振无法满足该检测精度。比如，现有比较尖端的FPGA芯片Kintex7的时钟晶振为533MHz，其能达到的最快的检测时间也仅仅为2ns以内，无法满足FPGA电路设计所需的皮秒级精度。

发明内容

本申请提出一种用于检测电池分子衰变的芯片、电池活性保护系统及方法，用于提高电池分子衰变的检测精度，从而能够根据检测到的电池分子衰变对电池进行维护，并测算出电池寿命和续航能力，解决现有技术中现有的FPGA芯片无法满足所需的检测精度的技术问题。

本申请第一方面实施例提出了一种用于检测电池分子衰变的芯片，所述芯片包括：第一触发器、第二触发器、第一计时器、第二计时器、比较器、第一输出开关、第二输出开关和处理单元，所述第一计时器的晶振频率大于所述第二计时器的晶振频率；其中，

所述第一触发器，用于采集输入信号的上升沿；

所述第二触发器，用于采集所述输入信号的下降沿；

所述第一计时器，用于在所述第一触发器采集的所述上升沿的触发下开始计数，生成第一计数值；

所述第二计时器，用于在所述第二触发器采集的所述下降沿的触发下开始计数，生成第二计数值；

所述比较器，用于比较第一计数值和第二计数值，并在所述第一计数值和所述第二计数值一致时，输出目标标志位，并将所述目标标志位发送至所述第一输出开关和所述第二输出开关；

所述第一输出开关与所述第一计时器连接，并在接收到所述目标标志位时，输出所述第一计数值至所述处理单元；

所述第二输出开关与所述第二计时器连接，并在接收到所述目标标志位时，输出所述第二计数值至所述处理单元；

所述处理单元，用于根据所述第一计数值和所述第一计时器的晶振频率，计算得到第一时间，以及根据所述第二计数值和所述第二计时器的晶振频率，计算得到第二时间，并计算所述第二时间与所述第一时间的差值，得到电池分子衰变时间。