[发明专利]投影装置的脏污检测方法、检测装置及可读存储介质

权利要求书

1.一种投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述投影装置的脏污检测方法包括以下步骤：

获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像；

获取所述投影图像对应的第一脏污信息；

根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息，其中，所述第一投影距离小于第二投影距离；

根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。

2.如权利要求1所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像的步骤之前，还包括：

获取第一投影装置在第一投影距离下投影得到的第一参考图像以及所述第一投影装置在第二投影距离下投影得到的第二参考图像；

获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息；

根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数；

保存所述转换系数。

3.如权利要求2所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息的步骤包括：

对所述第一参考图像进行二值化处理得到第一二值化图像，并对所述第二参考图像进行二值化处理得到第二二值化图像；

确定所述第一二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第一像素数量，所述第三脏污信息包括所述第一像素数量；

确定所述第二二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第二像素数量，所述第四脏污信息包括所述第二像素数量。

4.如权利要求3所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述第一投影装置至少两个，所述根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数的步骤包括：

对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量求和以得到第一像素数量和；

对所述第二投影装置对应的所述第二像素数量求和以得到第二像素数量和；

获取第一像素数量和以及所述第二像素数量和的比值，将所述比值作为所述转换系数。

5.如权利要求3所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述第一投影装置至少两个，所述根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数的步骤包括：

比对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量；

比对所述第一投影装置对应的所述第二像素数量；

获取最大第一像素数量以及最大第二像素数量的比值，将所述比值作为所述转换系数。

6.如权利要求1所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述获取所述投影图像对应的第一脏污信息的步骤包括：

对所述投影图像进行二值化处理得到第三二值化图像；

确定所述第三二值化图像中灰度值为预设值的第三像素数量，所述第一脏污信息包括所述第三像素数量。

7.如权利要求1所述的投影装置的脏污检测方法，其特征在于，所述根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断的步骤包括：

在所述第二脏污信息小于预设阈值时，输出所述第二投影装置合格的提示信息；

在所述第二脏污信息大于或等于所述预设阈值时，输出所述第二投影装置不合格的提示信息。

8.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的投影装置的脏污检测程序，所述投影装置的脏污检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的投影装置的脏污检测方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有投影装置的脏污检测程序，所述投影装置的脏污检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的投影装置的脏污检测方法的步骤。