[发明专利]投影装置的脏污检测方法、检测装置及可读存储介质

说明书

本发明公开了一种投影装置的脏污检测方法，包括以下步骤：获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像；获取所述投影图像对应的第一脏污信息；根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息，其中，所述第一投影距离小于第二投影距离；根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。本发明还公开了一种检测装置及计算机可读存储介质，达成了降低检测成本的效果。

技术领域

本发明涉及投影检测技术领域，尤其涉及投影装置的脏污检测方法、检测装置及计算机可读存储介质。

背景技术

投影装置是一种将图像经过放大投射显示出来的设备，在投影装置的组装过程中，由于工艺环境的影响，灰尘等微小颗粒易进入到组装的投影装置中，这些灰尘易影响投影装置的投影效果，为此在投影装置组装完成后，需要对投影装置的投影画面进行检测。

现有的检测方法通过获取投影装置在预设投影距离处的投影图像，并根据投影图像获取投影装置的脏污信息。由于获取投影图像的测试环境的要求较高，为了获得更准确的检测结果，投影距离一般比较长，因此，现有的检测方法存在检测成本较大的缺点。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种投影装置的脏污检测方法、检测装置及计算机可读存储介质，旨在达成降低检测成本的效果。

为实现上述目的，本发明提供一种投影装置的脏污检测方法，所述投影装置的脏污检测方法包括以下步骤：

获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像；

获取所述投影图像对应的第一脏污信息；

根据预存的转换系数将所述第一脏污信息转换为第二投影距离对应的第二脏污信息，其中，所述第一投影距离小于第二投影距离；

根据所述第二脏污信息进行所述第二投影装置的脏污判断。

可选地，获取第二投影装置在第一投影距离的投影图像的步骤之前，还包括：

获取第一投影装置在第一投影距离下投影得到的第一参考图像以及所述第一投影装置在第二投影距离下投影得到的第二参考图像；

获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息；

根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数；

保存所述转换系数。

可选地，所述获取所述第一参考图像的第三脏污信息以及所述第二参考图像的第四脏污信息的步骤包括：

对所述第一参考图像进行二值化处理得到第一二值化图像，并对所述第二参考图像进行二值化处理得到第二二值化图像；

确定所述第一二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第一像素数量，所述第三脏污信息包括所述第一像素数量；

确定所述第二二值化图像中的灰度值为预设值的像素点的第二像素数量，所述第三脏污信息包括所述第二像素数量。

可选地，所述第一投影装置至少两个，所述根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数的步骤包括：

对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量求和以得到第一像素数量和；

对所述第二投影装置对应的所述第二像素数量求和以得到第二像素数量和；

获取第一像素数量和以及所述第二像素数量和的比值，将所述比值作为所述转换系数。

可选地，所述第一投影装置至少两个，所述根据所述第三脏污信息和所述第四脏污信息得到所述转换系数的步骤包括：

比对所述第一投影装置对应的所述第一像素数量；