[发明专利]一种芯片晶圆加工用切割装置在审
申请号: | 202011002312.8 | 申请日: | 2020-09-22 |
公开(公告)号: | CN112185853A | 公开(公告)日: | 2021-01-05 |
发明(设计)人: | 任晓伟 | 申请(专利权)人: | 复汉海志(江苏)科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/687;B23K26/38;B23K26/402;B23K26/70;B01D46/10;B08B5/04 |
代理公司: | 盐城平易安通知识产权代理事务所(普通合伙) 32448 | 代理人: | 陈彩芳 |
地址: | 224000 江苏省盐*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 芯片 晶圆加 工用 切割 装置 | ||
1.一种芯片晶圆加工用切割装置,包括装置主体(1),其特征在于:所述装置主体(1)的上端设置有激光切割装置(5),所述装置主体(1)的两侧设置有散热窗(3),所述装置主体(1)的下端设置有支撑脚(2),所述装置主体(1)的上表面设置有漏口(11),所述激光切割装置(5)的下端设置有固定装置(4),所述装置主体(1)的外表面设置有显示屏(6),所述显示屏(6)的下侧设置有控制按钮(7),所述装置主体(1)的下表面设置有储物箱(10),所述储物箱(10)的内部设置有储屑箱(8),所述储屑箱(8)的外表面设置有拉手(9)。
2.根据权利要求1所述的一种芯片晶圆加工用切割装置,其特征在于:所述散热窗(3)的数量为两组,所述散热窗(3)对称分布于装置主体(1)的两侧,所述激光切割装置(5)活动安装于装置主体(1)的上端内部,所述固定装置(4)固定安装于装置主体(1)的上端。
3.根据权利要求1所述的一种芯片晶圆加工用切割装置,其特征在于:所述显示屏(6)的数量为两组,所述显示屏(6)固定安装于装置主体(1)表面,所述控制按钮(7)的数量为若干组,所述控制按钮(7)均匀分布于显示屏(6)的下端,所述控制按钮(7)与显示屏(6)之间为电性连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片晶圆加工用切割装置,其特征在于:所述储物箱(10)与装置主体(1)之间为固定安装,所述储屑箱(8)与储物箱(10)之间为活动安装,所述漏口(11)贯穿于装置主体(1)上表面,所述储物箱(10)的内部设置有风机(12),所述风机(12)与储物箱(10)之间为固定连接,所述装置主体(1)的侧边内表面设置有吸气孔(23),所述吸气孔(23)的数量为若干组,所述吸气孔(23)与风机(12)之间设置有通风管(13),且通过通风管(13)实现连接,所述吸气孔(23)的外侧设置有过滤网(14)。
5.根据权利要求1所述的一种芯片晶圆加工用切割装置,其特征在于:所述固定装置(4)的两侧设置有蜗杆(15),所述蜗杆(15)的数量为两组,所述蜗杆(15)对称分布于固定装置(4)的两侧,所述蜗杆(15)与固定装置(4)之间为活动安装,所述蜗杆(15)的外端设置有电机(16),所述电机(16)的数量为两组,所述电机(16)对称分布于装置主体(1)的两侧,所述电机(16)的前端设置有齿轮(17),所述齿轮(17)的数量为两组,所述齿轮(17)固定安装于电机(16)的外侧。
6.根据权利要求5所述的一种芯片晶圆加工用切割装置,其特征在于:所述固定装置(4)的内部设置有夹板(18),所述夹板(18)的数量为两组,所述夹板(18)对称分布于固定装置(4)的内部两侧,所述夹板(18)的外表面设置有轴承(24),所述轴承(24)的数量为两组,所述夹板(18)的内侧设置有橡胶条(19),所述橡胶条(19)的数量为两组,所述橡胶条(19)的材质为三元乙丙材料,所述橡胶条(19)固定安装于夹板(18)内侧表面,所述固定装置(4)的内部设置有置物板(21),所述置物板(21)的下端设置有伸缩杆(20),所述伸缩杆(20)的数量为两组,所述伸缩杆(20)与控制按钮(7)之间为电性连接,所述伸缩杆(20)固定安装于固定装置(4)内部下端。
7.根据权利要求1所述的一种芯片晶圆加工用切割装置,其特征在于:所述支撑脚(2)的数量为若干组,所述支撑脚(2)均匀分布于装置主体(1)的下端,所述支撑脚(2)的下端设置有橡胶套(22),所述橡胶套(22)的材质为三元乙丙材料,所述橡胶套(22)的数量与支撑脚(2)的数量一致。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造