[发明专利]氮化物半导体层叠结构、氮化物半导体发光元件及氮化物半导体层叠结构的制造方法在审

专利信息
申请号: 202011002525.0 申请日: 2020-09-22
公开(公告)号: CN112635297A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 今野泰一郎;木村健司;藤仓序章 申请(专利权)人: 赛奥科思有限公司;住友化学株式会社
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 氮化物 半导体 层叠 结构 发光 元件 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种氮化物半导体层叠结构,其至少具有:

蓝宝石基板、

在所述蓝宝石基板的主面上形成的第一AlN层、以及

在所述第一AlN层上形成的第二AlN层,

所述第二AlN层的a轴方向的形变量ε2的绝对值小于所述第一AlN层的a轴方向的形变量ε1的绝对值。

2.根据权利要求1所述的氮化物半导体层叠结构,其中,所述蓝宝石基板具有:C面以1.5°以下的偏离角倾斜的所述主面。

3.根据权利要求1或2所述的氮化物半导体层叠结构,其中,所述形变量ε1为-0.6%以上且-0.2%以下,所述形变量ε2为-0.15%以上且0.1%以下。

4.根据权利要求1~3中的任一项所述的氮化物半导体层叠结构,其中,所述第二AlN层的(0002)面的X射线摇摆曲线的半值宽度为250秒以下。

5.根据权利要求1~4中的任一项所述的氮化物半导体层叠结构,其中,所述第二AlN层的(10-12)面的X射线摇摆曲线的半值宽度为500秒以下。

6.根据权利要求1~5中的任一项所述的氮化物半导体层叠结构,其中,所述第二AlN层的(0002)面的X射线摇摆曲线的半值宽度小于所述第一AlN层的(0002)面的X射线摇摆曲线的半值宽度。

7.根据权利要求1~6中的任一项所述的氮化物半导体层叠结构,其中,所述第二AlN层的(10-12)面的X射线摇摆曲线的半值宽度小于所述第一AlN层的(10-12)面的X射线摇摆曲线的半值宽度。

8.一种氮化物半导体层叠结构,其具有:

蓝宝石基板、以及

在所述蓝宝石基板的主面上形成的AlN层,

构成所述AlN层表面的AlN的a轴方向的形变量为-0.15%以上且0.1%以下。

9.一种氮化物半导体发光元件,其在权利要求1~8中的任一项所述的氮化物半导体层叠结构上形成有发光结构,所述发光结构由氮化物半导体层的层叠构成。

10.一种氮化物半导体层叠结构的制造方法,该方法具有如下工序:

准备蓝宝石基板的工序,

在所述蓝宝石基板的主面上形成第一AlN层的工序,

在包含氢气且实质上不含氨的气氛下对所述第一AlN层的表面进行热处理的工序,以及

在所述第一AlN层上形成第二AlN层的工序,

所述第二AlN层的a轴方向的形变量ε2的绝对值小于所述第一AlN层的a轴方向的形变量ε1的绝对值。

11.一种氮化物半导体层叠结构的制造方法,该方法具有如下工序:

准备蓝宝石基板的工序,

在所述蓝宝石基板的主面上形成AlN层的工序,

在包含氢气且实质上不含氨的气氛下对所述AlN层的表面进行热处理的工序,以及

在所述AlN层上使AlN进行再生长的工序,

所述使AlN进行再生长的工序后的、构成所述AlN层表面的AlN的a轴方向的形变量为-0.15%以上且0.1%以下。

12.根据权利要求10或11所述的氮化物半导体层叠结构的制造方法,其中,所述进行热处理的工序在900℃以上进行10分钟以上的热处理。

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