[发明专利]一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置及方法

权利要求书

1.一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试方法，所述含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置，包括准直光学系统、含有光学消旋组件的光学系统、像方接收系统，所述准直光学系统，用于产生含有光学消旋组件的光学系统的像质测试所需的准直目标光束；所述含有光学消旋组件的光学系统包括前端接收光路组件、光学消旋组件、后端成像光路组件，其位于准直光学系统的出射光路上，用于对所述准直光学系统成像；所述像方接收系统位于含有光学消旋组件的光学系统的成像光路上，用于接收所述含有光学消旋组件的光学系统的出射像并对其进行MTF测试,其特征在于，包括如下步骤：根据平面反射镜自准直方法初步确定含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置的安装位置满足工作要求；

保持光学消旋组件静止，根据含有光学消旋组件的光学系统的物像关系，移动像方接收系统直至找到初始像点；

通过调整所述像方接收系统不断缩小所述准直光学系统的出射光轴、所述含有光学消旋组件的光学系统的光轴及所述像方接收系统的光轴的位置偏差，直至所述光学消旋组件转动工作时所述像方接收系统的接收的像点位置不再变化，此时所述像点的位置所对应的视场即为中心视场，该像点为基准测试像点。

2.根据权利要求1所述的含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置，其特征在于，所述准直光学系统沿光路依次包括靶标光源、抛物面准直镜、折转平面镜，

所述折转平面镜安装在第一支架上，所述第一支架用于带动折转平面镜转动以提供所述含有光学消旋组件的光学系统所需的不同视场。

3.根据权利要求2所述的含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置，其特征在于，所述靶标光源上还设有滤光片，所述滤光片用于滤除准直光束中的非测试波段的光束。

4.根据权利要求1所述的含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置，其特征在于，所述光学消旋组件包括K镜、别汉棱镜或道威棱镜中的一种。

5.根据权利要求1所述的含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置，其特征在于，所述像方接收系统包括像分析仪、第二支架、转动工作台，所述像分析仪安装在第二支架上，用于接收所述含有光学消旋组件的光学系统的出射像并对其进行MTF测试；所述第二支架设于转动工作台上，所述转动工作台用于为第二支架提供支撑以及带动第二支架和像分析仪转动。

6.根据权利要求5所述的含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置，其特征在于，所述含有光学消旋组件的光学系统安装在所述第二支架上。

7.根据权利要求1所述的含有光学消旋组件的光学系统的像质测试方法，其特征在于，所述通过调整所述像方接收系统不断缩小所述含有光学消旋组件的光学系统的入射光轴、所述光学消旋组件的光轴及所述像方接收系统的光轴的位置偏差，直至所述光学消旋组件转动工作时所述像方接收系统的接收的像点位置不再变化，此时所述像点的位置所对应的视场即为中心视场，该像点为基准测试像点包括如下步骤：

a.将光学消旋组件由静止状态旋转90°，调整像方接收系统以寻找第一像点，记录初始像点与第一像点的偏移量并将其作为第一偏移量；

b.将光学消旋组件旋转至原静止状态的位置，转动和记录像方接收系统的微量角度并寻找初始像点，并按照步骤a往复寻找第二像点，记录初始像点与第二像点的偏移量并将其作为第二偏移量；所述微量角度的取值范围为[-1°,1°]；

c.根据所述第一偏移量与所述第二偏移量的差值以及其对应的微量角度，调整所述准直光学系统与所述像方接收系统的相对位置；

d.循环步骤a至步骤c,直至光学消旋组件转动时所述像方接收系统的接收的像点位置不再变化。

8.根据权利要求1所述的含有光学消旋组件的光学系统的像质测试方法，其特征在于，包括如下步骤：根据所述基准测试像点所确定的准直光学系统、含有光学消旋组件的光学系统与像方接收系统之间的位置，调整准直目标光束的角度，实现所述含有光学消旋组件的光学系统在0w视场、0.7w及1.0w的像质测试。