[发明专利]一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置及方法

说明书

本发明涉及一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置及方法，其像质测试装置包括准直光学系统、含有光学消旋组件的光学系统、像方接收系统，所述准直光学系统，用于产生含有光学消旋组件的光学系统的像质测试所需的准直目标光束；所述含有光学消旋组件的光学系统位于准直光学系统的出射光路上，用于对所述准直光学系统成像；所述像方接收系统位于含有光学消旋组件的光学系统的成像光路上，用于接收所述含有光学消旋组件的光学系统的出射像并对其进行MTF测试。本发明通过观察和计算出射像的偏差进行针对性调整，解决了含有光学消旋组件的光学系统的像质测试的问题，保证了系统像质测试精度。

技术领域

本发明涉及光学领域，涉及一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置及方法。

背景技术

受制于光学传函仪结构本身限制，传统的像质测试装置及方法无法进行含有光学消旋组件的光学系统像质测试，其像质的评估一直是一个技术难题。

发明内容

本发明针对含有光学消旋组件的光学系统的像质测试难的技术问题，提供了一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置及方法。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：

本发明的第一方面目的提供了一种含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置，包括准直光学系统、含有光学消旋组件的光学系统、像方接收系统，所述准直光学系统，用于产生含有光学消旋组件的光学系统的像质测试所需的准直目标光束；所述含有光学消旋组件的光学系统包括前端接收光路组件、光学消旋组件、后端成像光路组件，其位于准直光学系统的出射光路上，用于对所述准直光学系统成像；

所述像方接收系统位于含有光学消旋组件的光学系统的成像光路上，用于接收所述含有光学消旋组件的光学系统的出射像并对其进行MTF测试。

在本发明的一些实施例中，所述准直光学系统沿光路依次包括靶标光源、抛物面准直镜、折转平面镜，所述折转平面镜安装在第一支架上，所述第一支架用于带动折转平面镜转动以提供所述含有光学消旋组件的光学系统所需的不同视场。

在本发明的一些实施例中，所述靶标光源上还设有滤光片，所述滤光片用于滤除准直光束中的非测试波段的光束。

在本发明的一些实施例中，所述光学消旋组件包括K镜、别汉棱镜或道威棱镜中的一种。

在本发明的一些实施例中，所述像方接收系统包括像分析仪、第二支架、转动工作台，所述像分析仪安装在第二支架上，用于接收含有光学消旋组件的光学系统的对其进行MTF测试；所述第二支架设于转动工作台上，所述转动工作台用于为第二支架提供支撑以及带动第二支架和像分析仪转动。

进一步的，所述含有光学消旋组件的光学系统安装在所述第二支架上。

在本发明的第二方面目的提供了含有光学消旋组件的光学系统的像质测试方法，包括本发明第一方面目的提供的含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置，包括如下步骤：

根据平面反射镜自准直方法初步确定含有光学消旋组件的光学系统的像质测试装置的安装位置满足工作要求；

保持光学消旋组件静止，根据含有光学消旋组件的光学系统的物像关系，移动像方接收系统直至找到初始像点；

通过调整所述像方接收系统不断缩小所述准直光学系统的出射光轴、所述含有光学消旋组件的光学系统的光轴及所述像方接收系统的光轴的位置偏差，直至所述光学消旋组件转动工作时所述像方接收系统的接收的像点位置不再变化，此时所述像点的位置所对应的视场即为中心视场，该像点为基准测试像点。