[发明专利]光源的检测方法、检测装置和可读存储介质

权利要求书

1.一种光源的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：

获取光源开启后的点亮位置，依据所述点亮位置确定所述光源开启后的光学中心的位置；

将所述光学中心的位置和预设标准位置进行对比获得光源的点亮数量；

将所述点亮数量和预先接通电源的光源数量进行对比，确定点亮的光源和预先接通电源的光源是否一致；

所述光源包括第一光源和第二光源，所述第一光源和所述第二光源并列设置，所述点亮位置包括所述第一光源中心对应的第一位置，所述点亮位置还包括所述第二光源中心对应的第二位置；

所述获取光源开启后的点亮位置，依据所述点亮位置确定所述光源开启后的光学中心的位置的步骤，包括：

获取所述第一位置和所述第二位置，选定所述第一位置和所述第二位置之间的位置区域；

计算所述位置区域的中心位置为所述光学中心的位置。

2.如权利要求1所述的光源的检测方法，其特征在于，所述将所述光学中心的位置和预设标准位置进行对比获得光源的点亮数量的步骤，包括：

若所述光学中心的位置在所述预设标准位置范围之内，则所述第一光源和所述第二光源全部点亮；

若所述光学中心的位置在所述预设标准位置范围之外，则所述第一光源和所述第二光源其中一个点亮。

3.如权利要求2所述的光源的检测方法，其特征在于，所述将所述光学中心的位置和预设标准位置进行对比获得光源的点亮数量的步骤之后，还包括：

获取所述光学中心的偏移方向；

依据所述光学中心的偏移方向确定点亮的是所述第一光源或所述第二光源。

4.如权利要求3所述的光源的检测方法，其特征在于，所述位置区域的形状为对称图形，所述对称图形依据所述第一位置和所述第二位置的连接线为对称轴。

5.如权利要求1至4中任一项所述的光源的检测方法，其特征在于，所述光源设置于待测模组，所述光源的出射方向设置检测模组；

所述获取光源开启后的点亮位置的步骤包括：

控制所述待测模组的光源开启；

控制所述检测模组获取所述待测模组的光源开启后的点亮位置。

6.一种光源的检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：

检测模块，用于获取光源开启后的点亮位置，依据所述点亮位置确定所述光源开启后的光学中心的位置；

对比模块，用于将所述光学中心的位置和预设标准位置进行对比获得光源的点亮数量；

确定模块，用于将所述点亮数量和预先接通电源的光源数量进行对比，确定点亮的光源和预先接通电源的光源是否一致；

所述光源包括第一光源和第二光源，所述第一光源和所述第二光源并列设置，所述点亮位置包括所述第一光源中心对应的第一位置，所述点亮位置还包括所述第二光源中心对应的第二位置；

所述检测模块包括获取单元和计算单元；

所述获取单元，用于获取所述第一位置和所述第二位置，选定所述第一位置和所述第二位置之间的位置区域；

所述计算单元，用于计算所述位置区域的中心位置为所述光学中心的位置。

7.如权利要求6所述的光源的检测装置，其特征在于，所述对比模块，还用于对比所述光学中心的位置和所述预设标准位置，若所述光学中心的位置在所述预设标准位置范围之内，则所述第一光源和所述第二光源全部点亮；若所述光学中心的位置在所述预设标准位置范围之外，则所述第一光源和所述第二光源其中一个点亮。

8.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有光源的检测程序，所述光源的检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的光源的检测方法的步骤。