[发明专利]光源的检测方法、检测装置和可读存储介质

说明书

本发明公开了一种光源的检测方法、检测装置和可读存储介质，所述检测方法包括：获取光源开启后的点亮位置，依据所述点亮位置确定所述光源开启后的光学中心的位置；将所述光学中心的位置和预设标准位置进行对比获得光源的点亮数量；将所述点亮数量和预先接通电源的光源数量进行对比，确定点亮的光源和预先接通电源的光源是否一致。本发明技术方案能够快速有效判断光源是否正常开启，提高检测效率。

技术领域

本发明涉及光源检测技术领域，尤其涉及一种光源的检测方法、检测装置和可读存储介质。

背景技术

在生产制造带有光源的模组中，通常需要对光源是否能够正常开启点亮进行检测。目前的检测方法是对光源的点亮光强进行测量，一般单个光源开启后光强相对较弱，多个光源开启后光强相对较强。但是部分模组在生产制造过程中，由于生产工艺导致光源的光强出现亮度差异。有时多个光源均能够正常开启，属于合格品，但是光强反而低于设定的标准，在判断时易将这些模组判定为不合格品。如此就需要人为观察这些模组的光源是否能够正常开启，人工再次检测的方式导致检测光源性能的效率低下。

发明内容

基于此，针对目前带有光源的模组由于工艺出现亮度差异，易将合格品判定为不合格品，需要人工再次判断导致检测效率低下的问题，有必要提供一种光源的检测方法、检测装置和可读存储介质，旨在快速有效判断光源是否正常开启，提高检测效率。

为实现上述目的，本发明提出的一种光源的检测方法，所述检测方法包括：

获取光源开启后的点亮位置，依据所述点亮位置确定所述光源开启后的光学中心的位置；

将所述光学中心的位置和预设标准位置进行对比获得光源的点亮数量；

将所述点亮数量和预先接通电源的光源数量进行对比，确定点亮的光源和预先接通电源的光源是否一致。

可选地，所述光源包括第一光源和第二光源，所述第一光源和所述第二光源并列设置，所述点亮位置包括所述第一光源中心对应的第一位置，所述点亮位置还包括所述第二光源中心对应的第二位置；

所述获取光源开启后的点亮位置，依据所述点亮位置确定所述光源开启后的光学中心的位置的步骤，包括：

获取所述第一位置和所述第二位置，选定所述第一位置和所述第二位置之间的位置区域；

计算所述位置区域的中心位置为所述光学中心的位置。

可选地，所述将所述光学中心的位置和预设标准位置进行对比获得光源的点亮数量的步骤，包括：

若所述光学中心的位置在所述预设标准位置范围之内，则所述第一光源和所述第二光源全部点亮；

若所述光学中心的位置在所述预设标准位置范围之外，则所述第一光源和所述第二光源其中一个点亮。

可选地，所述将所述光学中心的位置和预设标准位置进行对比获得光源的点亮数量的步骤之后，还包括：

获取所述光学中心的偏移方向；

依据所述光学中心的偏移方向确定点亮的是所述第一光源或所述第二光源。

可选地，所述位置区域的形状为对称图形，所述对称图形依据所述第一位置和所述第二位置的连接线为对称轴。

可选地，所述光源设置于待测模组，所述光源的出射方向设置检测模组；

所述获取光源开启后的点亮位置的步骤包括：

控制所述待测模组的光源开启；

控制所述检测模组获取所述待测模组的光源开启后的点亮位置。

此外，为了实现上述目的，本发明还提供一种光源的检测装置，所述检测装置包括：