[发明专利]控制非易失性存储器装置的存储控制器的操作方法在审

专利信息
申请号: 202011007655.3 申请日: 2020-09-23
公开(公告)号: CN112650443A 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 金娟智;徐荣德;金燦河;卢羌镐;吴玄教;李熙元 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06;G06F11/10;G06N20/00
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 黄晓燕;张川绪
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 控制 非易失性存储器 装置 存储 控制器 操作方法
【权利要求书】:

1.一种控制非易失性存储器装置的存储控制器的操作方法,所述方法包括:

在初始驱动时段,收集指示非易失性存储器装置的第一存储器区域的劣化因素的第一参数和指示在第一存储器区域发生的劣化的程度的第二参数;

基于第一参数和第二参数选择多个函数模型中的第一函数模型,并且基于选择的第一函数模型来预测第一存储器区域的第一错误趋势;

基于第一错误趋势来确定第一可靠性间隔;以及

基于第一可靠性间隔对非易失性存储器装置的第一存储器区域执行第一可靠性操作。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,第一参数包括:第一存储器区域的操作计数、编程/擦除循环的数量、数据保存时间和温度中的至少一个,并且

其中,第二参数包括在第一存储器区域发生的错误位的数量和第一存储器区域的单元计数值中的至少一个。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,初始驱动时段是从非易失性存储器装置的正常操作开始时的时间开始的预定时段。

4.根据权利要求3所述的方法,其中,第一错误趋势指示在初始驱动时段之后第一参数的增大与第二参数的增大之间的关系。

5.根据权利要求4所述的方法,其中,基于第一错误趋势来决定第一参数的第一值和第一参数的第二值,第一参数的第一值与第二参数是第一参考值时对应,第一参数的第二值与第二参数是第二参考值时对应,并且

其中,第一可靠性间隔基于第一参数的第一值与第一参数的第二值之间的差来确定。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,第一可靠性操作在没有来自外部主机装置的请求的情况下执行。

7.根据权利要求1至权利要求6中任意一项所述的方法,其中,执行第一可靠性操作的步骤包括:

累积第一存储器区域的第一操作计数;

当第一操作计数达到第一可靠性间隔时检测第一存储器区域的错误位;以及

当错误位的数量是参考值或更大时,对存储在第一存储器区域中的数据的错误进行纠正并且将纠错后的数据从第一存储器区域移动到另一存储区域。

8.根据权利要求1所述的方法,其中,第一存储器区域是存储器块,并且存储器块是非易失性存储器装置的擦除单位。

9.根据权利要求1所述的方法,其中,多个函数模型基于从与非易失性存储器装置不同的多个样本芯片收集的样本参数提前生成。

10.根据权利要求1所述的方法,还包括:

在初始驱动时段,收集指示非易失性存储器装置的第二存储器区域的劣化因素的第三参数和指示在第二存储器区域发生的劣化的程度的第四参数;

基于第三参数和第四参数选择多个函数模型中的第二函数模型,并且基于第二函数模型来预测第二存储器区域的第二错误趋势;

基于第二错误趋势来确定第二可靠性间隔;以及

基于第二可靠性间隔对非易失性存储器装置的第二存储器区域执行第二可靠性操作。

11.根据权利要求10所述的方法,还包括:

当第一函数模型和第二函数模型相同时、当第一错误趋势和第二错误趋势相同时、或者当第一可靠性间隔和第二可靠性间隔相同时,将第一存储器区域和第二存储器区域作为一个组进行管理。

12.一种被配置为控制非易失性存储器装置的存储控制器的操作方法,所述方法包括:

在初始驱动时段,获得指示非易失性存储器装置的第一存储器区域的劣化因素的第一参数和指示第一存储器区域的劣化的程度的第二参数;

通过基于训练模型执行机器学习来推断第一存储器区域的第一错误趋势,训练模型基于非易失性存储器装置的错误趋势、第一参数和第二参数来训练;

基于第一错误趋势来确定第一可靠性间隔;以及

基于第一可靠性间隔对非易失性存储器装置的第一存储器区域执行第一可靠性操作。

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