[发明专利]一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构

权利要求书

1.一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构，包括内环主轴（12），其特征在于，所述内环主轴（12）上从上至下依次套装有内环上轴承组件（18）、内环驱动电机组件（7）、下轴承组件（10）；所述内环上轴承组件（18）外侧套装有外环主轴（2），外环主轴（2）上端固定有内环上轴承端盖（11），外环主轴（2）外侧套装有转台轴承（3）和外环驱动电机组件（5），转台轴承（3）和外环驱动电机组件（5）均与底座（8）固定连接；所述内环驱动电机组件（7）和下轴承组件（10）经固定架（19）与底座（8）固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构，其特征在于，所述内环上轴承组件（18）经内环上轴承端盖（11）和内环上轴承锁紧螺母（6）固定安装在内环主轴（12）上，所述内环上轴承组件（18）包括内环上轴承内隔套（4），内环上轴承内隔套（4）外侧设有内环上轴承外隔套（9），内环上轴承内隔套（4）和内环上轴承外隔套（9）的两端均安装有上角接触球轴承对（1），上角接触球轴承对（1）为“背对背”结构安装。

3.根据权利要求1所述的一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构，其特征在于，所述下轴承组件（10）包括与固定架（19）固定连接的下轴承座（13），下轴承座（13）内设有1对均套装在内环主轴（12）上的下角接触球轴承对（16），1对所述的下角接触球轴承对（16）均为“面对面”结构安装，1对所述的下角接触球轴承对（16）之间设有内环下轴承内隔圈（17），内环下轴承内隔圈（17）外侧设有内环下轴承外隔圈（14），所述下轴承座（13）的下端固定有内环下轴承端盖（15）。