[发明专利]一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构

说明书

本发明公开了一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构，包括内环主轴，所述内环主轴上从上至下依次套装有内环上轴承组件、内环驱动电机组件、下轴承组件；所述内环上轴承组件外侧套装有外环主轴，外环主轴上端固定有内环上轴承端盖，外环主轴外侧套装有转台轴承和外环驱动电机组件，转台轴承和外环驱动电机组件均与底座固定连接；所述内环驱动电机组件和下轴承组件经固定架与底座固定连接。本发明能够解决现有的导引头测试转台两框无法独立运动，两框精度低、隔离度差的问题，从而满足高性能导引头各项性能指标的测试和考核。

技术领域

本发明涉及一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构。

背景技术

红外导引头是红外制导的核心部件，其性能直接影响飞行控制信号，对飞行的性能起着关键作用，备受世界各国的重视，均投入大量的人力、物力进行研究。而导引头测试设备是其研制过程中重要的组成部分，导引头的各项性能指标的测试、考核均需在测试设备上完成。

以往导引头测试大多在单轴双框转台上进行，即单轴转台台面上搭载两个安装板，一个安装板上安装有导引头，另一安装板上安装有目标模拟器，每次通过将一个安装板与台面固定，另一个安装板与底座固定，从而实现导引头的性能测试。但该方式单次只能提供导引头或目标模拟器单独运动，不能同时运动。并且两个框互相干扰比较严重，隔离度差。因此严重影响高性能导引头各项性能指标的测试和考核。

发明内容

本发明其目就在于提供一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构，该双轴系结构内环轴系嵌在外环轴系内部，两轴系可独立运动，克服了上述背景技术中的问题，同时两轴系回转精度高，抗倾覆力矩强，承载能力大，相互隔离度高，从而能够满足高性能导引头各项性能指标的测试和考核。

为实现上述目的而采取的技术方案是，一种用于导引头测试转台的高精度“轴套轴”双轴系结构，包括内环主轴，所述内环主轴上从上至下依次套装有内环上轴承组件、内环驱动电机组件、下轴承组件；所述内环上轴承组件外侧套装有外环主轴，外环主轴上端固定有内环上轴承端盖，外环主轴外侧套装有转台轴承和外环驱动电机组件，转台轴承和外环驱动电机组件均与底座固定连接；所述内环驱动电机组件和下轴承组件经固定架与底座固定连接。

进一步，所述内环上轴承组件经内环上轴承端盖和内环上轴承锁紧螺母固定安装在内环主轴上，所述内环上轴承组件包括内环上轴承内隔套，内环上轴承内隔套外侧设有内环上轴承外隔套，内环上轴承内隔套和内环上轴承外隔套的两端均安装有上角接触球轴承对，上角接触球轴承对为“背对背”结构安装。

进一步，所述下轴承组件包括与固定架固定连接的下轴承座，下轴承座内设有2对均套装在内环主轴上的下角接触球轴承对，2对所述的下角接触球轴承对均为“面对面”结构安装，2对所述的下角接触球轴承对之间设有内环下轴承内隔圈，内环下轴承内隔圈外侧设有内环下轴承外隔圈，所述下轴承座的下端固定有内环下轴承端盖。

有益效果

与现有技术相比本发明具有以下优点。

本发明的优点是，该双轴系结构可以分别由不同的驱动电机驱动，从而根据各自的规划作独立运动，两轴系各自回转精度高，抗倾覆力矩强，承载能力大，隔离度高，能够解决现有的导引头测试转台两框无法独立运动，两框精度低、隔离度差的问题，从而满足高性能导引头各项性能指标的测试和考核。

附图说明

以下结合附图对本发明作进一步详述。

图1为本发明的结构剖面构造图；

图2为本发明中下轴承组件的剖面构造图；

图3为本发明的结构立体图；