[发明专利]芯片测试数据溯源方法和装置在审
| 申请号： | 202011021890.6 | 申请日： | 2020-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN112200278A | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 凌云;邬刚 | 申请（专利权）人： | 杭州加速科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K17/00 | 分类号： | G06K17/00;G06K9/32;H01L21/67 |
| 代理公司： | 北京市君合律师事务所 11517 | 代理人： | 王再芊;毕长生 |
| 地址： | 311121 浙江省杭州市余杭区*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 测试数据 溯源 方法 装置 | ||
1.一种芯片测试数据溯源的方法，包括：
获取芯片的标识符信息；
关联存储所述芯片的标识符信息与所述芯片的测试数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取芯片的标识符信息包括从所述芯片的RFID中读取所述芯片的标识符信息。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取芯片的标识符信息包括：
获取芯片表面的图像；
对芯片表面的图像进行文字识别处理，获取所述芯片的标识符信息。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述芯片表面的图像是在芯片测试过程中通过高速相机获取的。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括，在关联存储所述芯片的标识符与所述芯片的测试数据之前，对所述芯片进行电性测试，得到所述测试数据。
6.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，对芯片表面的图像进行文字识别处理包括：
根据预设的标识符区域位置信息，提取所述芯片表面的图像中的标识符区域的图像；
对所述标识符区域的图像进行文字识别处理，得到所述芯片的标识符信息。
7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，若对芯片表面的图像进行文字识别处理的步骤失败，则重新执行获取芯片表面的图像的步骤。
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括，根据所述芯片的标识符，查找所述芯片的测试数据。
9.一种芯片测试数据溯源的装置，包括：
获取单元，用于获取芯片的标识符信息；
存储单元，用于关联存储所述芯片的标识符信息与所述芯片的测试数据。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述获取单元被配置为从所述芯片的RFID中读取所述芯片的标识符信息。
11.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述获取单元包括：
图像采集单元，用于获取芯片表面的图像；
文字识别单元，用于对芯片表面的图像进行文字识别处理，获取所述芯片的标识符信息。
12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述图像采集单元用于通过高速相机获取芯片表面的图像。
13.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括，测试单元，用于对所述芯片进行电性测试，得到所述测试数据。
14.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述文字识别单元包括：
提取单元，用于根据预设的标识符区域位置信息，提取所述芯片表面的图像中的标识符区域的图像；
处理单元，用于对所述标识符区域的图像进行文字识别处理，得到所述芯片的标识符信息。
15.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述装置还包括判断单元，用于判断所述文字识别处理是否失败，若失败则通过图像采集单元重新获取芯片表面的图像。
16.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括查找单元，用于根据所述芯片的标识符，查找所述芯片的测试数据。
17.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时执行权利要求1至8中任一项所述的方法。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州加速科技有限公司，未经杭州加速科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011021890.6/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
