[发明专利]芯片测试数据溯源方法和装置

说明书

本发明公开一种芯片测试数据溯源的方法和装置。该方法包括：获取芯片的标识符信息；关联存储芯片的标识符信息与芯片的测试数据。通过将芯片的标识符信息与芯片的测试数据关联存储，可以方便地对每个芯片的测试数据进行精确溯源。

技术领域

本发明涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种芯片测试数据溯源方法和装置。

背景技术

半导体芯片封装完成后，需要进行成品测试。在芯片成品测试中，需要检测芯片是否满足设计标准以及出厂销售标准。在测试过程中会对芯片测试数据进行归档和保存，以便对测试数据进行统计和分析。

目前，对于半导体芯片测试数据只能做到按生产批次索引。一个测试批次的数量从数千到数十万个芯片不等。因此，对测试数据的溯源只能做到一个批次的级别。无法精确的对每个芯片的测试的数据进行溯源操作。当日后需要对芯片进行失效分析或者对芯片生产良率和效率进行查询和追溯时，就无法做到对每个半导体芯片的测试数据进行溯源。

因此，需要提供一种能够对芯片测试数据进行溯源的方法。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种芯片测试数据溯源的方法和装置，用以解决现有技术中的无法对芯片数据进行精确溯源的问题。

根据本发明的第一方面，提出了一种芯片测试数据溯源的方法，该方法包括：

获取芯片的标识符信息；

关联存储所述芯片的标识符信息与所述芯片的测试数据。

根据本发明一优选实施方式，获取芯片的标识符信息包括从所述芯片的RFID中读取所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，获取芯片的标识符信息包括：

获取芯片表面的图像；

对芯片表面的图像进行文字识别处理，获取所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，所述芯片表面的图像是在芯片测试过程中通过高速相机获取的。

根据本发明一优选实施方式，所述方法还包括，在关联存储所述芯片的标识符与所述芯片的测试数据之前，对所述芯片进行电性测试，得到所述测试数据。

根据本发明一优选实施方式，对芯片表面的图像进行文字识别处理包括：

根据预设的标识符区域位置信息，提取所述芯片表面的图像中的标识符区域的图像；

对所述标识符区域的图像进行文字识别处理，得到所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，若对芯片表面的图像进行文字识别处理的步骤失败，则重新执行获取芯片表面的图像的步骤。

根据本发明一优选实施方式，所述方法还包括，根据所述芯片的标识符，查找所述芯片的测试数据。

根据本发明的第二方面，提出了一种芯片测试数据溯源的装置，包括：

获取单元，用于获取芯片的标识符信息；

存储单元，用于关联存储所述芯片的标识符信息与所述芯片的测试数据。

根据本发明一优选实施方式，所述获取单元被配置为从所述芯片的RFID中读取所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，所述获取单元包括：

图像采集单元，用于获取芯片表面的图像；

文字识别单元，用于对芯片表面的图像进行文字识别处理，获取所述芯片的标识符信息。

根据本发明一优选实施方式，所述图像采集单元被配置为通过高速相机获取芯片表面的图像。