[发明专利]校准系统、校准方法及校准装置

权利要求书

1.一种校准系统，用于确定打磨头的基准信息以通过所述打磨头打磨工件，所述基准信息包含第一位置，所述第一位置用于确定所述打磨头的打磨起始点，所述校准系统包含：

所述打磨头；

控制器，耦接所述打磨头且用于控制所述打磨头沿第一方向运动；

传感模组，用于基于所述打磨头沿第一方向运动，感测所述打磨头及所述工件的至少一个所受的力，以形成第一压力值；

所述控制器，进一步用于：

确定所述第一压力值超过预设值；

基于所述第一压力值超过预设值，确定所述第一位置。

2.如权利要求1所述的校准系统，其中所述基准信息包含第二位置、第一姿态及第二姿态，所述第一方向与第二方向垂直，所述控制器，进一步用于控制所述打磨头沿所述第二方向运动；

所述传感模组，进一步用于基于所述打磨头沿第二方向运动，感测所述打磨头及所述工件的至少一个所受的力，以形成第二压力值；

所述控制器，进一步用于：

确定所述第二压力值超过预设值；

基于所述第二压力值超过预设值，以确定所述第二位置、所述第一姿态及所述第二姿态的至少一个。

3.如权利要求2所述的校准系统，其中所述基准信息包含第三姿态，

所述控制器，进一步用于：

调整所述打磨头的位置，以使所述打磨头的中轴线在所述第一方向上；

控制所述打磨头沿所述第二方向运动；

所述传感模组，进一步用于基于所述打磨头沿所述第二方向运动，感测所述打磨头及所述工件的至少一个所受的力，以形成第三压力值；

所述控制器，进一步用于：

确定所述第三压力值超过预设值；

基于所述第三压力值超过预设值，以确定所述第三姿态。

4.如权利要求1所述的校准系统，其中所述传感模组，进一步用于：

基于所述打磨头沿第一方向运动，感测施加在所述打磨头上的沿所述第一方向上的力，以形成所述第一压力值。

5.如权利要求1所述的校准系统，其中所述传感模组，进一步用于：

基于所述打磨头沿第一方向运动，感测所述打磨头施加在所述工件上的沿所述第一方向上的力，以形成所述第一压力值。

6.如权利要求1所述的校准系统，其中所述传感模组，进一步用于：

基于所述打磨头沿第一方向运动，感测所述工件的沿所述第一方向上受到的力，以形成所述第一压力值。

7.如权利要求1所述的校准系统，其中：

所述控制器，进一步用于：

调整所述打磨头为第一姿态；

控制所述打磨头沿第一方向运动；

所述传感模组，进一步用于：

基于所述打磨头以第一姿态沿第一方向运动，感测所述打磨头及所述工件的至少一个所受的力，形成所述第一压力值。

8.一种校准方法，用于确定打磨头的基准信息，所述基准信息包含第一位置，所述第一位置用于确定所述打磨头的打磨起始点，所述校准方法包含：

控制所述打磨头沿第一方向运动；

基于所述打磨头沿第一方向运动，感测所述打磨头及工件的至少一个所受的力，以形成第一压力值，所述打磨头用于打磨所述工件；

确定所述第一压力值超过预设值；

基于所述第一压力值超过预设值，以确定所述第一位置。

9.如权利要求8所述的校准方法，其中所述基准信息包含第二位置、第一姿态及第二姿态，所述第一方向与第二方向垂直，所述校准方法进一步包含：

控制所述打磨头沿所述第二方向运动；

基于所述打磨头沿第二方向运动，感测所述打磨头及所述工件的至少一个所受的力，以形成第二压力值；

确定所述第二压力值超过预设值；

基于所述第二压力值超过预设值，以确定所述第二位置、所述第一姿态及所述第二姿态的至少一个。