[发明专利]一种光子晶体的目标激发频率查找方法、装置及可读介质

权利要求书

1.一种光子晶体的目标激发频率查找方法，其特征在于，包括：

获取预先构建的光子晶体的三重简并点频率；

根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，其中，每一个所述第一待检测激发频率均大于所述三重简并点频率；

针对每一个所述第一待检测激发频率，向所述光子晶体发射在该第一待检测激发频率且在不同入射角度下的电磁波，获得入射角度变化信息；

根据各所述入射角度变化信息，确定目标激发频率，其中，具有所述目标激发频率的电磁波在设定角度下不能入射到所述光子晶体。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，包括：

根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第二待检测激发频率，其中，所述第二待检测激发频率包括所述第一待检测激发频率；

针对每一个所述第二待检测激发频率，从所述光子晶体中出射具有该第二待检测激发频率的电磁波，获得出射相位涨落信息；

根据各所述出射相位涨落信息，在多个所述第二待检测激发频率中确定多个所述第一待检测激发频率。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据各所述出射相位涨落信息，在多个所述第二待检测激发频率中确定多个所述第一待检测激发频率，包括：

从各出射相位涨落信息中确定出数值最小的出射相位涨落信息，并将与该出射相位涨落信息相对应的第二待检测激发频率确定为第三待检测激发频率；

将位于所述三重简并点频率和所述第三待检测激发频率之间的第二待检测激发频率、所述第三待检测激发频率、以及超过所述第三待检测激发频率且与所述第三待检测激发频率相邻的至多两个第二待检测激发频率确定为第一待检测激发频率。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据各所述入射角度变化信息，确定目标激发频率，包括：

针对每一个所述入射角度变化信息，将与预设的入射角度变化信息的相似度大于预设的相似度阈值的当前入射角度变化信息确定为目标入射角度变化信息；

将与所述目标入射角度变化信息相对应的第一待检测激发频率确定为目标激发频率。

5.一种光子晶体的目标激发频率查找装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取预先构建的光子晶体的三重简并点频率；

第一确定模块，用于根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，其中，每一个所述第一待检测激发频率均大于所述三重简并点频率；

获得模块，用于针对每一个所述第一待检测激发频率，向所述光子晶体发射在该第一待检测激发频率且在不同入射角度下的电磁波，获得入射角度变化信息；

第二确定模块，用于根据各所述入射角度变化信息，确定目标激发频率，其中，具有所述目标激发频率的电磁波在设定角度下不能入射到所述光子晶体。

6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块，用于执行如下操作：

根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第二待检测激发频率，其中，所述第二待检测激发频率包括所述第一待检测激发频率；

针对每一个所述第二待检测激发频率，从所述光子晶体中出射具有该第二待检测激发频率的电磁波，获得出射相位涨落信息；

根据各所述出射相位涨落信息，在多个所述第二待检测激发频率中确定多个所述第一待检测激发频率。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第一确定模块在执行所述根据各所述出射相位涨落信息，在多个所述第二待检测激发频率中确定多个所述第一待检测激发频率时，用于执行如下操作：

从各出射相位涨落信息中确定出数值最小的出射相位涨落信息，并将与该出射相位涨落信息相对应的第二待检测激发频率确定为第三待检测激发频率；

将位于所述三重简并点频率和所述第三待检测激发频率之间的第二待检测激发频率、所述第三待检测激发频率、以及超过所述第三待检测激发频率且与所述第三待检测激发频率相邻的至多两个第二待检测激发频率确定为第一待检测激发频率。