[发明专利]一种光子晶体的目标激发频率查找方法、装置及可读介质

说明书

本发明涉及一种光子晶体的目标激发频率查找方法、装置及可读介质，该方法包括：获取预先构建的光子晶体的三重简并点频率；根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，其中，每一个所述第一待检测激发频率均大于所述三重简并点频率；针对每一个所述第一待检测激发频率，向所述光子晶体发射在该第一待检测激发频率且在不同入射角度下的电磁波，获得入射角度变化信息；根据各所述入射角度变化信息，确定目标激发频率，其中，具有所述目标激发频率的电磁波在设定角度下不能入射到所述光子晶体。本发明的方案能够查找到一个能够较好地消除电流源传播过程中的传播相位的目标激发频率。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种光子晶体的目标激发频率查找方法、装置及可读介质。

背景技术

零折射率材料由于其本构参数近零，从而波在零折射率材料中传播没有相位变化，并且这样特殊的一种材料具有很多有趣的波操纵特性。零折射率材料分为单零折射率材料和双零折射率材料。单零折射率材料又分为介电常数近零材料和磁导率近零材料。但是由于单零折射率材料只有一个本构参数近零，导致与背景场的阻抗失调，这并不适合实际应用。双零折射率材料，即两个本构参数都近零的材料与背景场之间具有一个有限的有效阻抗，这个可以克服单零折射率介质不实用的缺点。

在现有技术中，这些材料可以使用由金属谐振器或手性夹杂组成的人造复合材料来实现，但金属成分具有损害高频功能的损耗。而人造复合材料的方法，例如可以是：利用能带的偶然简并，设计和制作在布里渊区中心以有限频率显示类狄拉克锥色散的光子晶体，并且这种具有合理介电常数的光子晶体操纵波，在类狄拉克点频率处具有近零的折射率。

理论上，光子晶体中布里渊区中心类狄拉克点频率(对应三重简并点)激发光子晶体时对应了等效零折射率材料，分界面辐射波应为等相位辐射。但是，分界面辐射波在实际情况中并不是等相位出射，因此需要在近零折射率范围内寻找合适的光子晶体激发频率，即目标激发频率。

鉴于此，针对以上不足，需要提供一种光子晶体的目标激发频率查找方法、装置及可读介质来解决上述不足。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于如何查找到一个能够较好地消除电流源传播过程中的传播相位的目标激发频率，针对现有技术中的缺陷，提供一种光子晶体的目标激发频率查找方法、装置及可读介质。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种光子晶体的目标激发频率查找方法，包括：

获取预先构建的光子晶体的三重简并点频率；

根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，其中，每一个所述第一待检测激发频率均大于所述三重简并点频率；

针对每一个所述第一待检测激发频率，向所述光子晶体发射在该第一待检测激发频率且在不同入射角度下的电磁波，获得入射角度变化信息；

根据各所述入射角度变化信息，确定目标激发频率，其中，具有所述目标激发频率的电磁波在设定角度下不能入射到所述光子晶体。

在一种可能的实现方式中，所述根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第一待检测激发频率，包括：

根据所述三重简并点频率的数值精度，确定多个第二待检测激发频率，其中，所述第二待检测激发频率包括所述第一待检测激发频率；

针对每一个所述第二待检测激发频率，从所述光子晶体中出射具有该第二待检测激发频率的电磁波，获得出射相位涨落信息；

根据各所述出射相位涨落信息，在多个所述第二待检测激发频率中确定多个所述第一待检测激发频率。

在一种可能的实现方式中，所述根据各所述出射相位涨落信息，在多个所述第二待检测激发频率中确定多个所述第一待检测激发频率，包括：