[发明专利]屏幕缺陷检测方法、装置和电子设备

权利要求书

1.一种屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述屏幕缺陷检测方法包括：

从目标屏幕的检测图像中识别出若干个疑似缺陷像素点；

在所述检测图像中确定与疑似缺陷像素点对应的疑似缺陷区域；

对所述疑似缺陷区域进行划分得到一般区域和核心区域；

根据所述疑似缺陷区域的灰度均值、所述一般区域的灰度均值以及所述核心区域的灰度最小值判断所述目标屏幕是否存在透明缺陷，

所述根据所述疑似缺陷区域的灰度均值、所述一般区域的灰度均值以及所述核心区域的灰度最小值判断所述目标屏幕是否存在透明缺陷包括：

计算所述核心区域的灰度最小值与所述一般区域的灰度均值的比值作为局部对比度；

计算所述核心区域的灰度最小值与所述疑似缺陷区域的灰度均值的比值作为全局对比度；

利用所述局部对比度和所述全局对比度判断所述目标屏幕是否存在透明缺陷。

2.根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述利用所述局部对比度和所述全局对比度判断所述目标屏幕是否存在透明缺陷包括：

若所述局部对比度和所述全局对比度的差值的绝对值在第一阈值与第二阈值之间，则所述目标屏幕存在透明缺陷。

3.根据权利要求1或2所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述屏幕缺陷检测方法还包括：

在确定所述目标屏幕存在透明缺陷的情况下，计算疑似缺陷区域中的缺陷面积；

若所述缺陷面积小于面积阈值，则确定所述透明缺陷为误判的其他缺陷。

4.根据权利要求3所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述计算缺陷面积包括：

对所述疑似缺陷区域进行自适应二值化处理，得到以第一颜色表征屏幕正常，第二颜色表征屏幕缺陷的二值化图像；

将所述二值化图像中呈现第二颜色的像素点的外接矩形的面积作为缺陷面积。

5.根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述屏幕缺陷检测方法还包括：

获取能够包含目标屏幕的原始图像；

将所述原始图像转换为灰度图像；

从所述灰度图像中检测出与所述目标屏幕对应的有效区域，根据所述有效区域对所述灰度图像进行剪裁，得到所述目标屏幕的检测图像。

6.根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述在所述检测图像中确定与疑似缺陷像素点对应的疑似缺陷区域包括：

在所述检测图像中，以疑似缺陷像素点为中心，以第一预设值为边长提取正方形区域作为与该疑似缺陷像素点对应的疑似缺陷区域。

7.根据权利要求1所述的屏幕缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述疑似缺陷区域进行划分得到一般区域和核心区域包括：

在包含疑似缺陷像素点的疑似缺陷区域中，以该疑似缺陷像素点为圆心，以第二预设值为半径划分出圆形区域作为与该疑似缺陷像素点对应的核心区域；

所述疑似缺陷区域中除所述核心区域以外的全部区域为与该疑似缺陷像素点对应的一般区域。

8.一种屏幕缺陷检测装置，其特征在于，所述屏幕缺陷检测装置用于实现根据权利要求1-7中任一项所述的屏幕缺陷检测方法。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

处理器；以及

被安排成存储计算机可执行指令的存储器，所述可执行指令在被执行时使所述处理器执行根据权利要求1-7中任一项所述的屏幕缺陷检测方法。