[发明专利]CMOS图像传感器测试系统及方法有效

专利信息
申请号: 202011044845.2 申请日: 2020-09-28
公开(公告)号: CN112165614B 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 宋博;于奇;李靖;王勇 申请(专利权)人: 成都微光集电科技有限公司;电子科技大学
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 610041 四川省成都市高新*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: cmos 图像传感器 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种CMOS图像传感器测试系统,采用中央加边缘的分布式测试结构,其特征在于,包括:

中央处理节点,其被配置为提供测试项目给对应的测试节点;

测试节点,其被配置为获取CMOS图像传感器在对应的测试项目下的图像数据,并对所述图像数据进行图像处理以获取图像处理数据,所述测试节点包括测试夹具以及图像数据处理装置;所述测试夹具用于固定所述CMOS图像传感器,并与所述图像数据处理装置通信连接;所述图像数据处理装置用于获取所述CMOS图像传感器在不同测试项目下的所述图像数据,并对所述图像数据进行所述图像处理;

根据对应的测试项目选择所述图像处理数据在所述中央处理节点或所述测试节点处进行数据处理以得到测试结果,所述数据处理包括数据分布统计、拍摄均匀光环境数据以及通过单帧或多帧分布判断CIS图像质量是否符合要求;

所述测试节点的数量为多个。

2.如权利要求1所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,若所述图像处理数据在所述测试节点处进行所述数据处理,则将所述测试结果传输给所述中央处理节点;

若所述图像处理数据在所述中央处理节点处进行所述数据处理,则将所述测试结果传输给所述测试节点。

3.如权利要求1所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,所述图像数据处理包括对所述图像数据进行打包处理。

4.如权利要求3所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,所述打包处理包括在所述图像数据中加入节点名称、时间戳、测试项目名称或测试结果。

5.如权利要求1所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,若所述图像处理数据在所述测试节点处进行所述数据处理,则所述图像数据处理装置还用于对所述图像处理数据进行数据处理,将所述测试结果传输给所述中央处理节点。

6.如权利要求5所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,所述图像数据处理装置包括相互之间通信连接的配置接口、数据接收模块、数据处理模块以及数据输出模块;

所述配置接口与所述测试夹具连接,并用于配置所述CMOS图像传感器的参数;

所述数据接收模块与所述测试夹具连接,并用于接收所述图像数据;

所述数据处理模块用于对所述图像数据进行所述图像处理,或对所述图像处理数据进行数据处理;

所述数据输出模块用于传输所述图像处理数据或所述测试结果。

7.如权利要求6所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,所述图像数据处理装置还包括通信接口,所述通信接口与所述配置接口、所述数据接收模块、所述数据处理模块以及所述数据输出模块通信连接;

所述通信接口用于与所述中央处理节点进行通信连接。

8.如权利要求7所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,所述通信接口包括USB接口或以太网接口。

9.如权利要求5所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,所述测试节点还包括本地存储装置;

所述本地存储装置与所述图像数据处理装置通信连接,并用于存储所述图像处理数据和所述测试结果。

10.如权利要求5所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,所述测试节点还包括一反馈装置;

所述反馈装置与所述图像数据处理装置通信连接,并用于反馈所述CMOS图像传感器的测试结果。

11.如权利要求10所述的CMOS图像传感器测试系统,其特征在于,所述反馈装置包括LED显示设备或LCD显示设备。

12.一种CMOS图像传感器测试方法,利用权利要求1~11中任一项所述的CMOS图像传感器测试系统进行测试,其特征在于,包括以下步骤:

提供测试项目给对应的测试节点,所述测试节点的数量为多个;

获取CMOS图像传感器在对应的测试项目下的图像数据,并对所述图像数据进行图像处理以获取图像处理数据;

根据对应的测试项目选择所述图像处理数据在中央处理节点或所述测试节点处进行数据处理以得到测试结果,所述数据处理包括数据分布统计、拍摄均匀光环境数据以及通过单帧或多帧分布判断CIS图像质量是否符合要求。

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