[发明专利]CMOS图像传感器测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种CMOS图像传感器测试系统及方法，包括中央处理节点和多个测试节点，采用类似中央加边缘的星型网络结构执行CMOS图像传感器的测试。可通过中央处理节点灵活配置每个测试节点的测试项目，且节点之间互不影响，测试效率高。通过这种分布式的测试机台的设置，将传统串行或有限并行芯片测试的方案，改进为节点无限的星型网络分布式测试的方案，避免因为传统串行机台故障导致测试中断的问题，同时可以实现不同的测试节点实现不同的测试项目，提高了测试的灵活性和测试效率。且当某个测试节点发生故障时，不会影响其它测试节点的测试过程。可以灵活加减测试节点的数量，灵活调整测试成本及测试速度，灵活调整测试任务，鲁棒性强。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，尤其是涉及一种CMOS图像传感器测试系统及方法。

背景技术

CMOS图像传感器(CIS，CMOS Image Sensor)是一种典型的固体成像传感器，与CCD(Charge-Coupled Device，电荷耦合元件)有着共同的历史渊源。CMOS图像传感器通常由像敏单元阵列、行驱动器、列驱动器、时序控制逻辑、AD转换器、数据总线输出接口、控制接口等几部分组成,这几部分通常都被集成在同一块硅片上。其工作过程一般可分为复位、光电转换、积分、读出几部分。由于CMOS图像传感器具有随机窗口读取能力、抗辐射能力强、系统复杂程度低和可靠性高等相对优越的性能，使得CMOS图像传感器在数码相机、CMOS数字摄像机、X光机市场等其它领域得到了广泛的应用。

目前，CMOS图像传感器芯片最终出厂测试时，需要经过不同的测试项目。每个测试项目需要不同的CMOS图像传感器配置，并进行不同的数据计算。传统的工厂测试，大都使用集中式测试机台，仅能串行或有限并行对CMOS图像传感器进行测试，其扩展性不足。测试过程中，测试机台一旦发生故障需要整体停线，导致整个测试过程效率低下。

发明人发现，现有技术中应用于CMOS图像传感器的出厂测试技术方案，一般可分为自动测试机台或人工测试。自动测试机台通常是串行测试或有限的并行测试，测试机台无法灵活增减。且测试机台一旦故障，则可能导致测试线停滞，影响产品测试效率。人工测试虽然可灵活增减测试节点，但因为人工操作，很难达到完全一致的出厂标准。

因此，需要提出一种可以提高测试效率的方案。

发明内容

本发明的目的在于提供一种CMOS图像传感器测试系统及方法，用于解决现有技术中测试过程效率低下的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提出一种CMOS图像传感器测试系统，包括：

中央处理节点，其被配置为提供测试项目给对应的测试节点；

测试节点，其被配置为获取CMOS图像传感器在对应的测试项目下的图像数据，并对所述图像数据进行图像处理以获取图像处理数据；

所述图像处理数据在所述中央处理节点或所述测试节点处进行数据处理以得到测试结果；

所述测试节点的数量为多个。

可选地，根据对应的测试项目选择所述图像处理数据在所述中央处理节点或所述测试节点处进行所述数据处理。

可选地，若所述图像处理数据在所述测试节点处进行所述数据处理，则将所述测试结果传输给所述中央处理节点；

若所述图像处理数据在所述中央处理节点处进行所述数据处理，则将所述测试结果传输给所述测试节点。

可选地，所述图像数据处理包括对所述图像数据进行打包处理。

可选地，所述打包处理包括在所述图像数据中加入节点名称、时间戳、测试项目名称或测试结果。

可选地，所述测试节点包括测试夹具以及图像数据处理装置；