[发明专利]一种显示面板的残像检测方法及装置、显示设备在审
申请号: | 202011045293.7 | 申请日: | 2020-09-28 |
公开(公告)号: | CN112129489A | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 戴佳峰;李荣华 | 申请(专利权)人: | 厦门天马微电子有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 361101 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示 面板 检测 方法 装置 设备 | ||
1.一种显示面板的残像检测方法,其特征在于,包括:
控制所述显示面板显示预设时长的棋盘格画面,所述棋盘格画面包括多个呈矩阵排列的子画面,多个所述子画面包括多个第一子画面和多个第二子画面,所述第一子画面具有第一灰阶,所述第二子画面具有第二灰阶,沿所述矩阵的行方向和列方向,所述第一子画面和所述第二子画面交替排列;
控制所述显示面板显示具有第三灰阶的纯色画面,所述第三灰阶处于所述第一灰阶和所述第二灰阶之间;所述纯色画面包括多个子纯色画面,所述子纯色画面与所述子画面一一对应,所述子纯色画面和对应所述子画面采用所述显示面板的相同区域内的像素进行显示;所述子纯色画面包括中间区和围绕所述中间区的多个边缘区;
检测所述纯色画面中各所述边缘区的亮度;
根据各所述边缘区的亮度以及边缘区残像量化值计算公式,计算获得各所述边缘区的残像量化值,其中,边缘区残像量化值计算公式为Q=|L1-L2|/[(L1+L2)/2],Q为待计算边缘区的残像量化值,L1为所述待计算边缘区的亮度,L2为相邻边缘区的亮度,所述待计算边缘区和所述相邻边缘区位于相邻两个所述中间区之间且具有公共边;
根据各所述边缘区的残像量化值,确定所述显示面板的残像量化值。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述边缘区的宽度y与所述显示面板的像素密度x满足如下关系式:y=0.15x-15。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述多个边缘区包括第一边缘区、第二边缘区、第三边缘区和第四边缘区;
沿所述矩阵的行方向,所述第一边缘区和所述第二边缘区分别位于所述中间区的相对两侧;沿所述矩阵的列方向,所述第三边缘区和所述第四边缘区分别位于所述中间区的相对两侧。
4.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,根据各所述边缘区的残像量化值,确定所述显示面板的残像量化值包括:
提取各所述边缘区的残像量化值中的最大值;
将所述最大值作为所述显示面板的残像量化值。
5.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,根据各所述边缘区的残像量化值,确定所述显示面板的残像量化值包括:
计算各所述子纯色画面中所述第一边缘区的残像量化值和所述第二边缘区的残像量化值的第一均值,以及各所述子纯色画面中的所述第三边缘区的残像量化值和所述第四边缘区的残像量化值的第二均值;
提取多个所述第一均值和多个所述第二均值中的最大值;
将所述最大值作为所述显示面板的残像量化值。
6.根据权利要求3所述的检测方法,其特征在于,根据各所述边缘区的残像量化值,确定所述显示面板的残像量化值包括:
计算各所述子纯色画面中四个所述边缘区的残像量化值的均值;
提取多个所述均值中的最大值;
将所述最大值作为所述显示面板的残像量化值。
7.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,根据各所述边缘区的残像量化值,确定所述显示面板的残像量化值之后,还包括:
获取残像等级划分规则;
根据所述显示面板的残像量化值以及所述残像等级划分规则,确定所述显示面板的第一残像等级。
8.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,根据各所述边缘区的残像量化值,确定所述显示面板的残像量化值之后,还包括:
确定所述显示面板的残像量化值对应的至少一个所述边缘区所在的最小矩形区域的边界线;
在所述纯色画面中显示所述边界线。
9.根据权利要求7所述的检测方法,其特征在于,确定所述显示面板的第一残像等级之后,还包括:
接收用户输入的第二残像等级;
判断所述第二残像等级与所述第一残像等级是否相同,若是,则在所述纯画面预设位置处显示残像等级值。
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